Pat
J-GLOBAL ID：200903080594465970

物質の光応答を測定する方法およびその装置

Inventor：
長谷 宗明

About 長谷 宗明

, 
北島 正弘

About 北島 正弘

, 
石岡 邦江

About 石岡 邦江


Applicant, Patent owner：
独立行政法人物質・材料研究機構

About 独立行政法人物質・材料研究機構


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003014142
Publication number (International publication number)：2004226224
Application date： Jan. 23, 2003
Publication date： Aug. 12, 2004
Summary：
【課題】レーザパルス励起により生じた固体の非平衡キャリアおよび非平衡格子振動による固体の反射率または透過率変化を高速且つS/N比良く測定することのできる、物質の光応答を測定する方法および装置を提供する。【解決手段】ポンプ&プローブ分光法において、時間遅延回路上の時間遅延発生装置(13)における反復動作を、高速リニアスキャンを用いて20Hz以上100Hz以下の高速で行い、かつ固体試料(10)に照射した後Si-PINフォトダイオード(17)で受光したプローブ光(6)の光電流出力の信号を電流増幅器(18)に取り込んで増幅し、さらにその増幅された信号を、デジタルオシロスコープ(15)において時間遅延発生装置(13)からの位置信号(14)によりトリガーすることでそのデジタルオシロスコープ(15)上に記録する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
フェムト秒レーザパルス光であって直線偏光しかつ変調された励起パルス光と、フェムト秒レーザパルス光であって励起パルス光の偏光方向と直交した方向もしくは45°傾いた方向に直線偏光したプローブ光とを、いずれか一方の光を時間遅延回路により時間遅延させた状態で固体試料に照射し、励起パルス光により反射率あるいは透過率が変化した固体試料において反射あるいは透過されたプローブ光の強度を測定する方法において、時間遅延回路上の時間遅延発生装置における反復動作を、高速リニアスキャンを用いて20Hz以上100Hz以下の高速で行い、かつ固体試料に照射した後フォトダイオードで受光したプローブ光の光電流出力の信号を電流増幅器に取り込んで増幅し、さらにその増幅された信号を、デジタルオシロスコープにおいて時間遅延発生装置からの位置信号によりトリガーすることでそのデジタルオシロスコープ上に記録することを特徴とする物質の光応答を測定する方法。
IPC (4)：
G01N21/47 ,  G01N21/59 ,  G01N21/63 ,  G01N33/20
FI (4)：
G01N21/47 Z ,  G01N21/59 Z ,  G01N21/63 Z ,  G01N33/20 G
F-Term (38)：
2G043CA05 ,  2G043EA10 ,  2G043FA03 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA07 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA04 ,  2G055AA01 ,  2G055BA11 ,  2G055FA02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG08 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059MM08 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059NN01 ,  2G059NN09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM