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J-GLOBAL ID：200903080977019108

円筒状ワークの外観検査装置

Inventor： 山田 和明 ,  野上 良治 ,  森川 仁司
Applicant, Patent owner： 光洋精工株式会社 ,  光洋機械工業株式会社
Agent (1)： 伊東 貞雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997215578
Publication number (International publication number)：1999044650
Application date： Jul. 25, 1997
Publication date： Feb. 16, 1999
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 円筒状ワーク両端面及び内外周面を同方式の撮像手段で同方向から検査すること。【解決手段】 円筒状ワークをその一方の端面に当接して載置させる基台1と、円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反転させ、他方の端面を基台1に当接するよう載置させる反転手段2と、円筒状ワークと同軸で、その外方に配置され、円筒状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラーを形成した第1反射体5と、円筒状ワークと同軸で、その内方に配置され、円筒状ワークの内周面に対向する側に円錐状ミラーを形成した第2反射体6と、円筒状ワークの中心軸上方に配置され、ビームを照射する投光手段3と、投光手段3に近接配置され、反射光を受光して撮像する撮像手段4と、撮像手段の情報に基いて検査する画像判別手段7とを有する。

Claim (excerpt)：

円筒状ワークをその一方の端面に当接して載置させる基台と、前記円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反転させ、他方の端面を前記基台に当接するよう載置させる反転手段と、前記円筒状ワークと同軸で、その外方に配置され、該円筒状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラーを形成した第1反射体と、前記円筒状ワークと同軸で、その内方に配置され、該円筒状ワークの内周面に対向する側に円錐状ミラーを形成した第2反射体と、前記円筒状ワークの中心軸上方に配置され、該円筒状ワークおよび/もしくは前記第1反射体にビームを照射する投光手段と、前記円筒状ワークの中心軸上方で、前記投光手段に近接配置され、該円筒状ワークおよび/もしくは第1反射体、第2反射体からの反射光を受光して撮像する撮像手段と、前記撮像手段の情報に基いて、前記円筒状ワークの両端面、外周面および内周面を検査する画像判別手段と、を有する円筒状ワークの外観検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• ワーク表面の検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-073550   Applicant：ニチデン機械株式会社
• 被検査物の表面性状観察装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-147101   Applicant：日本精工株式会社
• 機械部品のキー溝位置検出方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-202598   Applicant：新日本製鐵株式会社