Pat
J-GLOBAL ID：200903081085642249

材料加工の試験装置、解析システム及び記録媒体

Inventor：
吉田 忠継

About 吉田 忠継


Applicant, Patent owner：
ファイフィット株式会社

About ファイフィット株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007056469
Publication number (International publication number)：2008216153
Application date： Mar. 06, 2007
Publication date： Sep. 18, 2008
Summary：
【課題】材料加工試験では、工具と材料間の摩擦力のために変形が拘束されて材料の各部位で加工履歴が異なるため、観察部位の選定には経験技術が必要であった。【解決の手段】材料加工試験の解析モデルにより常用範囲の試験条件の数値解析を実施する手段、材料加工試験の数値解析結果から少なくとも試験片各部の代表位置と変位勾配を含む変数の履歴を抽出しデータファイルに出力する手段、所望によりデータファイルをデータベースに登録する手段、加工プロセスの解析モデルにより所望の条件の数値解析を実施する手段、加工プロセスの数値解析結果から被加工材の着目部位の少なくとも変位勾配を含む変数の履歴を抽出する手段、データファイルを参照して変数の履歴と一致度の高いデータファイルを探索する手段、一致度の高いデータファイルに基づき試験片の観察部位を特定する手段、所望により該試験片の観察部位の極点図を算出し出力する手段から構成される材料加工の試験装置である。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
材料加工試験の解析モデルにより常用範囲の試験条件の数値解析を実施する手段、該材料加工試験の該数値解析結果から少なくとも試験片各部の代表位置と変位勾配を含む変数の履歴を抽出しデータファイルに出力する手段、所望により該データファイルをデータベースに登録する手段、加工プロセスの解析モデルにより所望の条件の数値解析を実施する手段、該加工プロセスの数値解析結果から被加工材の着目部位の少なくとも変位勾配を含む変数の履歴を抽出する手段、該データファイルを参照して該変数の履歴との不一致度の低いデータファイルを探索する手段、該不一致度の低いデータファイルに基づき該試験片の観察部位を特定する手段、所望により該試験片の該観察部位の極点図を算出し出力する手段から構成されることを特徴とする材料加工の試験装置
IPC (1)：
G01N 3/08
FI (1)：
G01N3/08
F-Term (10)：
2G061AA02 ,  2G061AB01 ,  2G061AB04 ,  2G061BA11 ,  2G061BA18 ,  2G061CA01 ,  2G061DA11 ,  2G061EA02 ,  2G061EA04 ,  2G061EC02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM