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J-GLOBAL ID：200903081104354837

斜面崩壊測定装置及び歪分布測定方法

Inventor： 山崎 宣悦
Applicant, Patent owner： 株式会社レイディック ,  坂田電機株式会社
Agent (1)： 後藤 洋介 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000127512
Publication number (International publication number)：2001304924
Application date： Apr. 27, 2000
Publication date： Oct. 31, 2001
Summary：

【要約】【課題】 斜面の近傍で切断された光ファイバに別の光ファイバを接続することによって斜面表面近くの崩壊を測定することができる斜面崩壊測定装置を提供する。【解決手段】 斜面10を貫くように水平方向に沿って形成されたボーリング孔11に、その深さ方向に沿って配置される第1の光ファイバ12に所定間隔の巻回部分15を設ける。第1の光ファイバに第2の光ファイバ13を介して光ファイバ歪分布測定器14を接続し、光パルスを伝播させ、そのブリルアン散乱光を観測する。接続点からの反射光により測定不能となる領域は、接続点に最も近い巻回部分15を超えることはない。即ち、斜面崩壊測定不能領域は、斜面の表面から、最も斜面表面に近い位置の巻回部分までである。

Claim (excerpt)：

斜面を貫くように形成されたボーリング孔内に設置される光ファイバと、前記ボーリング孔の外側で前記光ファイバに接続される歪分布測定器とを有し、前記歪分布測定器から出射するレーザ光を前記光ファイバに入射させて伝播させ、その後方散乱光を検出して前記光ファイバの歪分布を測定することにより、前記斜面の崩壊を測定する斜面崩壊測定装置において、前記光ファイバに、所定の間隔で、該光ファイバを巻回した巻回部分を設けたことを特徴とする斜面崩壊測定装置。

IPC (4)：

G01D 21/00 ,  E02B 7/06 ,  G01B 11/16 ,  G01D 5/26

FI (4)：

G01D 21/00 D ,  E02B 7/06 ,  G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D

F-Term (20)：

2F065AA65 ,  2F065DD03 ,  2F065FF33 ,  2F065FF41 ,  2F065GG08 ,  2F065LL02 ,  2F076BA11 ,  2F076BB09 ,  2F076BD01 ,  2F076BD02 ,  2F076BD06 ,  2F076BD17 ,  2F103BA10 ,  2F103BA15 ,  2F103CA06 ,  2F103CA07 ,  2F103EB02 ,  2F103EB32 ,  2F103EC09 ,  2F103GA11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光ファイバセンサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-141942   Applicant：株式会社フジクラ, 応用地質株式会社, 株式会社トーエネック
• 歪み測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-026287   Applicant：日立造船株式会社