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J-GLOBAL ID：200903081752512979

イオン発生装置

Inventor：
足立 義一

About 足立 義一

, 
加藤 雄二

About 加藤 雄二


Applicant, Patent owner：
日本ぱちんこ部品株式会社

About 日本ぱちんこ部品株式会社


Agent (1)： 菅原 正倫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001072955
Publication number (International publication number)：2002025748
Application date： Jun. 30, 2000
Publication date： Jan. 25, 2002
Summary：
【要約】【課題】 イオン発生電極に付着する汚れを簡便かつ効果的に除去することができ、ひいては汚れ付着によるイオン発生効率の低下を効果的に防止ないし抑制することができる機能を備えたイオン発生装置を提供する。【解決手段】イオン発生装置1は、イオン発生電極7に付着した汚れを電気的発熱により焼失させる電気的クリーニング機構79を有する。イオン発生電界が集中する電極先端部に汚れ等が付着すると、イオン発生効率が極めて著しく妨げられる。そこで、電気的クリーニング機構79により、該イオン発生電極7の先端部7aに付着した付着物を焼失させるようにすれば、そのような不具合防止を図る上で極めて効果的である。この場合、イオン発生に寄与する電極7の先鋭な先端部に付着した汚れを選択的に除去するようにすれば、クリーニングの目的は十分に果たすことができ、かつ電気的クリーニング機構による電気的発熱能力をそれほど高くしなくともよいから、装置の簡略化にも寄与する。
Claim (excerpt)：
負極性の高電圧印加により負イオンを発生させるとともに、放電用対向電極を伴わない孤立電極として構成されたイオン発生電極と、そのイオン発生電極にイオン発生のために高電圧を印加するイオン発生用高電圧発生部と、前記イオン発生電極に付着する付着物を電気的発熱により焼失させるための電気的クリーニング機構と、を備えたことを特徴とするイオン発生装置。
IPC (4)：
H01T 23/00 ,  H01T 19/04 ,  A61L 9/22 ,  F24F 1/02
FI (4)：
H01T 23/00 ,  H01T 19/04 ,  A61L 9/22 ,  F24F 1/02 381 B
F-Term (7)：
3L051BC10 ,  4C080AA09 ,  4C080BB02 ,  4C080BB05 ,  4C080CC01 ,  4C080CC12 ,  4C080QQ14
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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