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J-GLOBAL ID：200903082401893425

周波数特性測定装置

Inventor： 田中 康▲廣▼
Applicant, Patent owner： 株式会社村田製作所
Agent (1)： 森下 武一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998157221
Publication number (International publication number)：1999352162
Application date： Jun. 05, 1998
Publication date： Dec. 24, 1999
Summary：

【要約】【課題】 測定時間を長くしないで測定精度を高めることができる周波数特性測定装置を得る。【解決手段】 周波数特性測定装置は、概略、高周波発生器、測定器と、これら高周波発生器及び測定器を制御するコンピュータとで構成されている。具体的には、ネットワークアナライザやインピーダンスアナライザ等である。この周波数特性測定装置を用いて、圧電共振子の減衰特性を測定する場合、周波数f2〜f3の領域は減衰量の変化が急激であり、周波数f5〜f6の領域は減衰量の変化が緩やかである。つまり、減衰特性上、最も重要な部分は周波数f2〜f3の領域であるので、この周波数f2〜f3の領域の測定の周波数ステップを小さくして測定ポイントを従来より増やす。一方、周波数f5〜f6の領域は精度も低くてよいため、測定の周波数ステップを大きくして測定ポイントを従来より減らす。

Claim (excerpt)：

所定の周波数範囲の高周波信号を発生させる高周波発生器と、所定の電気的変量を測定する測定器と、前記高周波発生器から所定の周波数領域の高周波信号を順次発生させて掃引させると共に、被測定物の所定の電気的変量を所定の周波数ステップ毎に前記測定器にて測定させるコントローラとを備え、前記高周波発生器からの高周波信号の1サイクルの掃引中に、任意の周波数区間で前記測定器による測定の周波数ステップを異ならせたこと、を特徴とする周波数特性測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• サーボアナライザ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-231003   Applicant：横河電機株式会社
• リストスイープの測定条件設定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-057818   Applicant：横河・ヒューレット・パッカード株式会社
• 周波数分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-303734   Applicant：ローデウントシユバルツゲーエムベーハーウントコンパニーカーゲー