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J-GLOBAL ID:200903082784906126
遺伝子解析方法及び装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
林 敬之助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999347513
Publication number (International publication number):2001165840
Application date: Dec. 07, 1999
Publication date: Jun. 22, 2001
Summary:
【要約】【課題】 迅速かつ、効率よく、高精度に遺伝子地図を解析する手法を提供する。【解決手段】 測定対象DNA鎖1およびプローブ分子2を用い、すくなくとも、DNA特異結合操作、固定・伸張操作、探針による検出操作からなる遺伝子解析方法 などの遺伝子解析方法を考案し、ここで用いる探針として、近接場光学顕微鏡用プローブまたは原子間力顕微鏡用プローブまたはトンネル顕微鏡用プローブを用い、また、伸張操作として、光ピンセット法等を用いることで、分解能と精度の高い遺伝子配列の解析を実現可能にした。
Claim (excerpt):
測定対象のDNA鎖に含まれる特定遺伝子配列の位置を求める方法において、測定対象DNA鎖およびプローブ分子を用い、すくなくとも、DNA特異結合操作、固定・伸張操作、探針による検出操作からなることを特徴とする遺伝子解析方法。
IPC (3):
G01N 13/12
, G01N 13/14
, G01N 13/16
FI (3):
G01N 13/12 A
, G01N 13/14 A
, G01N 13/16 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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走査型プローブ顕微鏡を用いた核酸検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-025219
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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DNAシーケンシング方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-245932
Applicant:株式会社日立製作所
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生体関連高分子の固定化装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-173731
Applicant:住友金属工業株式会社
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Article cited by the Patent:
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