Pat

J-GLOBAL ID：200903082786128112

眼屈折力測定装置

Inventor： 檜野 利哉
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999050394
Publication number (International publication number)：2000245698
Application date： Feb. 26, 1999
Publication date： Sep. 12, 2000
Summary：

【要約】【課題】 混濁等の測定妨害部位を避けた位置で容易に測定が行える眼屈折力測定装置を提供する。【解決手段】 被検眼の屈折力を測定する眼屈折力測定装置において、被検眼に測定指標を投影し、眼底からの反射光を受光する受光素子の出力信号に基づいて複数の経線方向での屈折力を得る測定手段と、前記測定手段を被検眼に対して相対移動する移動手段と、前記受光素子の出力信号に基づいて眼底からの反射光の通過の妨害となる妨害部位を検出する妨害部位検出手段と、該検出結果に基づいて前記移動手段を駆動制御する制御手段とを備える。

Claim (excerpt)：

被検眼の屈折力を測定する眼屈折力測定装置において、被検眼に測定指標を投影し、眼底からの反射光を受光する受光素子の出力信号に基づいて複数の経線方向での屈折力を得る測定手段と、前記測定手段を被検眼に対して相対移動する移動手段と、前記受光素子の出力信号に基づいて眼底からの反射光の通過の妨害となる妨害部位を検出する妨害部位検出手段と、該検出結果に基づいて前記移動手段を駆動制御する制御手段と、を備えることを特徴とする眼屈折力測定装置。

FI (2)：

A61B 3/10 M ,  A61B 3/10 W

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 眼屈折計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-196376   Applicant：キヤノン株式会社
• 検眼装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-190690   Applicant：株式会社ニデック

Cited by examiner (2)

• 眼屈折計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-196376   Applicant：キヤノン株式会社
• 検眼装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-190690   Applicant：株式会社ニデック