Pat
J-GLOBAL ID:200903082891989824

偏光状態測定装置、円二色性測定装置及びその方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  川又 澄雄 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005280367
Publication number (International publication number):2007093289
Application date: Sep. 27, 2005
Publication date: Apr. 12, 2007
Summary:
【課題】測定精度及び測定時間が向上した小型で安価な偏光状態測定装置、及び円二色性測定装置を提供する。【解決手段】偏光状態測定装置(10)は、所定の帯域成分を含む光の所定の偏光成分を透過させる第1の偏光子(22)と、第1の偏光子を透過した光を所望の偏光に変調する偏光変調手段(24)と、偏光変調手段を介して測定対象(S)を透過した光の所定の偏光成分を透過させる第2の偏光子(48)と、第2の偏光子を透過した光の光強度を検出する検出手段(50)と、検出手段で検出した光強度をフーリエ級数で表したときのフーリエ係数に基づいて測定対象の偏光状態を計測する計測手段(52)と、を有し、偏光変調手段が、第1及び第2の液晶素子(26、28)と、液晶素子への印加電圧を制御する電圧制御手段(30、32)と、を有する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
光透過性を有する測定対象の偏光状態を計測する偏光状態測定装置において、 所定の帯域成分を含む光の所定の偏光成分を透過させる第1の偏光子と、 前記第1の偏光子を透過した光を所望の偏光に変調する偏光変調手段と、 前記偏光変調手段を介して前記測定対象を透過した光の所定の偏光成分を透過させる第2の偏光子と、 前記第2の偏光子を透過した光の光強度を検出する検出手段と、 前記検出手段で検出した光強度をフーリエ級数で表したときのフーリエ係数に基づいて前記測定対象の偏光状態を計測する計測手段と、 を有し、 前記偏光変調手段が、第1及び第2の液晶素子と、前記液晶素子への印加電圧を制御する電圧制御手段と、を有する、 ことを特徴とする偏光状態測定装置。
IPC (5):
G01N 21/21 ,  G01J 4/04 ,  G01N 21/19 ,  G02F 1/13 ,  G02F 1/133
FI (6):
G01N21/21 Z ,  G01J4/04 D ,  G01J4/04 Z ,  G01N21/19 ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/1335 510
F-Term (35):
2G059AA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059BB13 ,  2G059CC12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE05 ,  2G059GG04 ,  2G059GG06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2H088EA44 ,  2H088EA47 ,  2H088EA48 ,  2H088EA68 ,  2H088FA30 ,  2H088GA02 ,  2H088GA13 ,  2H088HA16 ,  2H088HA18 ,  2H088HA21 ,  2H088HA28 ,  2H088MA20 ,  2H091FA07X ,  2H091FA07Z ,  2H091FA11X ,  2H091FA11Z ,  2H091FC29 ,  2H091FC30 ,  2H091LA30
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 旋光度測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-228202   Applicant:シチズン時計株式会社
Cited by examiner (5)
Show all

Return to Previous Page