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J-GLOBAL ID:200903083420393847
外観検査装置の集中管理システム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
丹羽 宏之 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996310841
Publication number (International publication number):1998153556
Application date: Nov. 21, 1996
Publication date: Jun. 09, 1998
Summary:
【要約】【課題】 プリント基板の撮影画像を取り込んで実装部品やはんだ付けの良否を判定する外観検査装置において、不良が発生しても基板を別の場所へ持ち運ばなくても良く、リアルタイムで処理できるようにする。【解決手段】 各外観検査装置1で撮影した基板のビデオ信号を集中管理装置2のビデオ切替器4に送り、その中から必要なビデオ信号を制御装置5からの切替信号により選択し、ビデオモニタ6の画面にその基板の映像を表示させる。そして、不良と判定された箇所の検査をモニタ画面の映像を見て行い、その結果を外観検査装置1に送る。
Claim (excerpt):
部品を実装した基板の撮影画像を取り込んで該部品やはんだ付けの良否を判定する外観検査装置の集中管理システムであって、各外観検査装置よりの画像信号を制御装置からの切替信号により切り替える切替器と、切り替えられた画像信号により画像を表示するモニタを備え、不良と判定された箇所の検査を前記モニタの表示画像により行うことを特徴とする外観検査装置の集中管理システム。
IPC (3):
G01N 21/88
, G06T 7/00
, H05K 3/34 512
FI (3):
G01N 21/88 F
, H05K 3/34 512 A
, G06F 15/62 405 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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プリント板ユニット外観検査システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-222871
Applicant:富士通株式会社
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印刷物検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-150274
Applicant:大日本印刷株式会社
-
監視装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-055959
Applicant:株式会社東芝
-
画像処理装置及び画像処理方法及び半導体パッケージ外観検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-161785
Applicant:株式会社日立製作所, 日立米沢電子株式会社
-
パターン欠陥検出方法とその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-017567
Applicant:株式会社日立製作所
-
液面検出方法及び液面検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-082800
Applicant:東海旅客鉄道株式会社, 株式会社日立製作所, 日立電子エンジニアリング株式会社
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