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J-GLOBAL ID：200903083782345891

吸光度測定用マイクロチップ

Inventor：
間部 杉夫

About 間部 杉夫


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (4)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  村松 貞男 ,  風間 鉄也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003323241
Publication number (International publication number)：2005091093
Application date： Sep. 16, 2003
Publication date： Apr. 07, 2005
Summary：
【課題】低コストで、測定精度が向上され、耐性が強い吸光度測定用マイクロチップを提供する。【解決手段】光が透過される光学基板4を有する吸光度測定用マイクロチップ2。光学基板4には、測定流路6が形成されている。この測定流路6は、互いに対面しかつ互いにほぼ平行である一対の境界平面8,9を有し、これら一対の境界平面8,9を介して光が測定流路6内に入射あるいは測定流路6内から射出され、光が測定流路6内に一対の境界平面8,9に垂直に入射されるように位置される。さらに、光学基板4に形成された反射部16,18は、測定流路6内に入射され測定流路6内の検液を通過し一対の境界平面8,9に垂直に測定流路6内から射出された光を、反射により、少なくとも一回一対の境界平面8,9に垂直に測定流路6内に入射させ測定流路6内の検液を通過させ一対の境界平面8,9に垂直に測定流路6内から射出させ、光学基板4から外部へと射出させる。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
光が透過される光学基板を有する吸光度測定用マイクロチップであって、 前記光学基板に形成され、検液により満たされ、互いに対面しかつ互いにほぼ平行である一対の境界平面を有し、前記一対の境界平面を介して光がその中に入射あるいはその中から射出され、光がその中に前記一対の境界平面に垂直に入射されるように位置される測定流路と、 前記光学基板に形成され、前記測定流路内に入射され前記測定流路内の検液を通過し前記一対の境界平面に垂直に前記測定流路内から射出された前記光を、反射により、少なくとも一回前記一対の境界平面に垂直に前記測定流路内に入射させ前記測定流路内の検液を通過させ前記一対の境界平面に垂直に前記測定流路内から射出させ、前記光学基板から外部へと射出させる反射部とを、 具備することを特徴とする吸光度測定用マイクロチップ。
IPC (2)：
G01N21/05 ,  G01N37/00
FI (2)：
G01N21/05 ,  G01N37/00 101
F-Term (11)：
2G057AA01 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G057BD04 ,  2G057CA01 ,  2G057DA03 ,  2G057DA11 ,  2G057DB10 ,  2G057DC07
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 実公昭50-6387号公報
  • 検出計セルおよび光学測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-027795   Applicant：株式会社島津製作所
  • マイクロチップ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-248884   Applicant：ミノルタ株式会社
Cited by examiner (5)
  • 検出計セルおよび光学測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-027795   Applicant：株式会社島津製作所
  • 分光測光法
    Gazette classification：公表公報   Application number：特願平7-523311   Applicant：アプライドリサーチシステムスエーアールエスホールディングエヌヴイ
  • 特開昭49-058883
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