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J-GLOBAL ID:200903084041593037

高分子材料のグレード識別方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 黒田 壽
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000275693
Publication number (International publication number):2002090299
Application date: Sep. 11, 2000
Publication date: Mar. 27, 2002
Summary:
【要約】【課題】 従来の中赤外線スペクトルを測定するものに比して、より簡便、且つ迅速な高分子材料のグレード識別方法を提供する。【解決手段】 グレード識別対象の高分子材料について近赤外線の波長範囲における近赤外線スペクトルを測定し、近赤外線スペクトルのデータに対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法(ニューラルネットワーク、主成分分析法、PLS分析法、階層的クラスター分析法、SIMCA法等)を適用し、データ解析手法で取得された情報に基づいて高分子材料のグレードを識別する。ポリエチレンのグレード(HDPE,LDPE)を識別する場合は、1.6〜2.0μmの範囲で近赤外線スペクトルを測定する。特に、1.6912〜1.7783μmの範囲が好適である。
Claim (excerpt):
グレード識別対象の高分子材料について近赤外線の波長範囲における近赤外線スペクトルを測定し、該近赤外線スペクトルのデータに対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法を適用し、該データ解析手法で取得された情報に基づいて該高分子材料のグレードを識別することを特徴とする高分子材料のグレード識別方法。
IPC (2):
G01N 21/35 ,  G01N 33/44
FI (2):
G01N 21/35 Z ,  G01N 33/44
F-Term (8):
2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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