近赤外分析による製造運転制御方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：柳原成
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999104704
Publication number (International publication number)：2000140619
Application date： Apr. 13, 1999
Publication date： May. 23, 2000
Summary：

【要約】【課題】近赤外分析法による測定値に基づいて製造運転を制御する際、無駄な補完作業を省略し、検量線の補完が必要になった時点において効率よく検量線を補完・評価しながらルーチン分析を行い、その測定値に基づいてプラントを制御することが可能な近赤外分析による製造運転制御方法を提案する。【解決手段】試料を近赤外分析して得た測定値に基づいて製造運転を制御する方法であって、予め作成した検量線に基づいて試料を近赤外分析し、管理値外の測定値が得られたとき一般分析法による測定値を管理値と比較し、一般分析法の測定値が管理値外の場合は制御アクションを行い、一般分析法の測定値が管理値内の場合は過去の近赤外分析のデータを入力して予測値を求め、予測値が管理値外の場合は近赤外分析装置の点検を行い、予測値が管理値内の場合は検量線の補完を行い、近赤外分析により製造運転を制御する。

Claim (excerpt)：

試料を近赤外分析して得た測定値に基づいて製造運転を制御する方法であって、予め作成した検量線に基づいて試料を近赤外分析し、管理値外の測定値が得られたとき一般分析法による測定値を管理値と比較し、一般分析法の測定値が管理値内の場合は過去の近赤外分析のデータを入力して予測値を求め、予測値が管理値外の場合は近赤外分析装置の点検を行い、予測値が管理値内の場合は検量線の補完・評価を行うことを特徴とする近赤外分析による製造運転制御方法。

IPC (7)：

B01J 19/00 , G01N 21/27 , G01N 21/35 , G01N 30/04 , G01N 30/74 , G01N 30/86 , C07B 61/00

FI (7)：

B01J 19/00 J , G01N 21/27 F , G01N 21/35 Z , G01N 30/04 P , G01N 30/74 E , G01N 30/86 R , C07B 61/00 C

F-Term (16)：

2G059AA01 , 2G059BB15 , 2G059CC20 , 2G059EE12 , 2G059FF06 , 2G059HH01 , 2G059KK10 , 2G059MM02 , 2G059MM03 , 2G059MM05 , 2G059MM12 , 4G075AA01 , 4G075AA65 , 4G075CA34 , 4G075DA04 , 4H006AA02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

品質管理システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-180001 Applicant：出光興産株式会社, 横河電機株式会社
近赤外分光分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-096740 Applicant：横河電機株式会社
特開昭60-135842

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