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J-GLOBAL ID：200903084557619555

蛍光検出装置、蛍光検出方法および蛍光検出プログラム

Inventor：
平野 雅彦

About 平野 雅彦

, 
松本 和二

About 松本 和二


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (4)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  石田 悟 ,  柴田 昌聰
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006317570
Publication number (International publication number)：2008128982
Application date： Nov. 24, 2006
Publication date： Jun. 05, 2008
Summary：
【課題】測定対象物に含有される個々の蛍光色素に由来する蛍光を分離してSN比よく検出する。【解決手段】蛍光検出装置1は、顕微鏡10、励起光源20、検出部30および処理部40等を備える。処理部40に含まれる第1測定データ取得手段41は、複数の検出波長帯域それぞれにおいて蛍光を検出部30により略同一の検出時間に亘って検出させて第1測定データを取得する。検出時間設定手段42は、各検出波長帯域についての第1測定データを互いに比較して、入力光強度が最も低い特定検出波長帯域における検出時間を他の検出波長帯域における検出時間より長く設定する。第2測定データ取得手段43は、設定された各検出波長帯域の検出時間に亘って蛍光を検出部30により検出させて第2測定データを取得する。解析手段44は、第2測定データに基づいて、測定対象物9に含有される各種類の蛍光色素の含有濃度を解析する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
複数種類の蛍光色素が含有された測定対象物で発生する蛍光を検出する蛍光検出装置であって、 複数の検出波長帯域それぞれにおいて入力光強度を検出して当該検出結果を示すデータを出力するともに、前記複数の検出波長帯域それぞれにおける当該検出時間が可変である検出部と、 前記検出部における光検出動作を制御するとともに、前記検出部から出力されるデータを取得して該データを処理する処理部と、 を備え、 前記処理部が、 前記複数の検出波長帯域それぞれにおいて、前記測定対象物で発生する蛍光を前記検出部により略同一の検出時間に亘って検出させ、当該検出結果を示す第1測定データを取得する第1測定データ取得手段と、 前記第1測定データ取得手段により取得された前記複数の検出波長帯域それぞれについての第1測定データを互いに比較して、その比較結果に基づいて、前記複数の検出波長帯域のうち入力光強度が最も低い検出波長帯域(以下「特定検出波長帯域」という。)を選択して、前記複数の検出波長帯域のうち前記特定検出波長帯域における検出時間を他の検出波長帯域における検出時間より長く設定する検出時間設定手段と、 前記検出時間設定手段により設定された前記複数の検出波長帯域それぞれの検出時間に亘って、前記測定対象物で発生する蛍光を前記検出部により検出させ、当該検出結果を示す第2測定データを取得する第2測定データ取得手段と、 前記第2測定データ取得手段により取得された前記複数の検出波長帯域それぞれについての第2測定データに基づいて、前記測定対象物に含有される前記複数種類の蛍光色素それぞれの含有濃度を解析する解析手段と、 を含む、 ことを特徴とする蛍光検出装置。
IPC (1)：
G01N 21/64
FI (1)：
G01N21/64 F
F-Term (31)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA08 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043HA11 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043MA16 ,  2G043NA01 ,  2G043NA04 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QA20 ,  4B063QQ08 ,  4B063QQ60 ,  4B063QR48 ,  4B063QR66 ,  4B063QR69 ,  4B063QR77 ,  4B063QS24 ,  4B063QS28 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (3)

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