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J-GLOBAL ID：200903085021315657

PDPパネル封入ガス分析方法およびPDPパネル封入ガス分析装置

Inventor：
前田 達夫

About 前田 達夫


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (1)： 岩橋 文雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000170137
Publication number (International publication number)：2001349870
Application date： Jun. 07, 2000
Publication date： Dec. 21, 2001
Summary：
【要約】【課題】 封入ガスを効率的に捕集しかつ分析することのできるPDPパネル封入ガス分析方法およびPDPパネル封入ガス分析装置を得る。【解決手段】 ガラス管4をゲッターバルブ3を覆うように配置し、ガラス管4をPDPパネル2に気密に固着する。ガラス管4を配管5に接続し、ポンプ7,8で配管5およびガラス管4内荒引きし十分な真空度に到達したら、配管5およびガラス管4内の残留ガス成分を測定(測定値A)する。ゲッターバルブ3を破砕しPDPパネル2内の封入ガスを測定(測定値B)する。測定値Bから測定値Aを差し引くことでPDPパネル2内の正味の封入ガス成分を分析する。
Claim (excerpt)：
PDPパネル内の封入ガスを分析する方法であって、前記PDPパネルのゲッターバルブまたは排気管を粉砕することにより、前記PDPパネル内の封入ガスを質量分析計に導入し測定することを特徴とするPDPパネル封入ガス分析方法。
IPC (6)：
G01N 27/62 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/22 ,  H01J 9/42 ,  H01J 11/02 ,  H01J 49/04
FI (7)：
G01N 27/62 V ,  G01N 27/62 F ,  G01N 1/00 101 R ,  G01N 1/22 V ,  H01J 9/42 A ,  H01J 11/02 Z ,  H01J 49/04
F-Term (11)：
5C012BE01 ,  5C012BE04 ,  5C038EE01 ,  5C038EF12 ,  5C038EF22 ,  5C040GJ01 ,  5C040GJ10 ,  5C040JA26 ,  5C040JA31 ,  5C040LA17 ,  5C040MA26
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (11)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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