半導体論理回路装置の故障診断方法、装置、及び半導体論理回路装置の故障診断プログラムを記憶した記憶媒体

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：五十嵐省三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004305064
Publication number (International publication number)：2006118903
Application date： Oct. 20, 2004
Publication date： May. 11, 2006
Summary：

【課題】効率性を保持しつつ精確性を高くした半導体論理回路装置の故障診断方法、装置及び半導体論理回路装置の故障診断プログラムを記憶した記憶媒体を提供する。【解決手段】半導体論理回路装置の回路情報で、X故障ゲートGiにファンアウトがある場合(ステップ401)、ゲートGiのファンアウト信号線b1,b2,...に出現可能な故障論理値を表すX記号X1,X2,...を挿入し(ステップ402)、テスト入力ベクトルVECを入力信号線I0,I1,...に入力してX記号伝播により初期シミュレーション出力ベクトルISOを出力信号線O0,O1,...に得(ステップ403)、X記号に2値論理シミュレーションを行ってX分解によるシミュレーション出力ベクトルSMOを得(ステップ404)、実際の半導体論理回路装置からの観測出力ベクトルOBOとシミュレーション出力ベクトルSMOとの比較結果により半導体論理回路装置の故障存在被疑領域を特定化する。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

入力信号線(I0,I1,...)、出力信号線(O0,O1,...)及び前記入力信号線と前記出力信号線との間に接続された複数のゲート(G0,G1,...)を有する半導体論理回路装置(1)の故障診断方法において、前記半導体論理回路装置の回路内の物理欠陥によって該回路の複数の信号線(b1,b2,...)に出現可能な故障論理値を異なる記号(X1,X2,...)で表現することを特徴とする半導体論理回路装置の故障診断方法。

IPC (1)：

G01R 31/28

FI (1)：

G01R31/28 F

F-Term (9)：

2G132AA01 , 2G132AB01 , 2G132AC10 , 2G132AC14 , 2G132AD06 , 2G132AG01 , 2G132AG11 , 2G132AG14 , 2G132AL12

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

IDDQ計測による故障検出と故障診断
Fault diagnosis for physical defects of unknown behaviors
Fault diagnosis for static CMOS circuits

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