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J-GLOBAL ID：202102142973247547   Reference number：21A0192216

Fault Detection and Fault Diagnosis with I_DDQ Measurement

I_DDQ計測による故障検出と故障診断

Author (3)： WEN Xiaoqing (秋田大 鉱山) ,  TAMAMOTO HIDEO (秋田大 鉱山) ,  KINOSHITA KOZO (大阪大 大学院工学研究科)
Material： 日本信頼性学会誌  (REAJ誌)
Volume： 19  Issue： 4 (Web)  Page： 309-317(J-STAGE)  Publication year： Jun. 10, 1997 
JST Material Number： L2778A  ISSN： 0919-2697  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *fault detection ,  *fault diagnosis ,  *complementary metal oxide semiconductor ,  *circuit test ,  current measurement ,  integrated circuit ,  flaw inspection ,  current sensor ,  short circuit fault ,  model ,  failure model
Semi thesaurus term： defect analysis ,  current measurement ,  short circuit fault

JST classification (2)： General  (NC03161C) ,  Measuring methods and instruments of current,voltage,charge  (AD07020C)

Terms in the title (3)： 計測 ,  故障検出 ,  故障診断