外観検査方法

Inventor：
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：松崎清
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996136271
Publication number (International publication number)：1997318555
Application date： May. 30, 1996
Publication date： Dec. 12, 1997
Summary：

【要約】【課題】検査精度の向上と領域設定の簡単化を図る。【解決手段】カメラ11により撮像した対象物15の画像を、検査装置13で画像処理してその良否検査を行なう場合に、例えば図1(ロ)のような検査領域21を設定したとすると、従来のように検査領域21の全体の辞書を用いて検査するのではなく、図1(ハ)または(ニ)のように複数の小領域31〜34,41〜44ごとに辞書を作成して検査することで、検査精度を向上させる。

Claim (excerpt)：

検査対象を画像処理してその良否を検査するに当たり、基準となる検査対象画像を含む所定検査領域を任意の大きさの矩形小領域ごとに分割し、分割された各小領域についてパターンマッチングのための辞書を作成し、各小領域ごとに辞書と検査対象画像とのパターンマッチングにより検査を行なうことを特徴とする外観検査方法。

IPC (3)：

G01N 21/88 , G01B 11/24 , G06T 7/00

FI (4)：

G01N 21/88 J , G01B 11/24 F , G06F 15/62 400 , G06F 15/70 455 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

不良検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-261697 Applicant：オムロン株式会社
特開昭63-282576
画像データ欠陥検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-268772 Applicant：新日本製鐵株式会社

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Cited by examiner (2)

不良検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-261697 Applicant：オムロン株式会社
特開昭63-282576

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