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J-GLOBAL ID:200903089796434151
ナトリウム漏えい検知方法及び装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
清水 千春
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006274260
Publication number (International publication number):2008096104
Application date: Oct. 05, 2006
Publication date: Apr. 24, 2008
Summary:
【課題】雰囲気ガスに含まれる塩分の影響を受けないナトリウム漏えい検知方法及び装置を提供する。【解決手段】本発明に係るナトリウム漏えい検知方法は、検知対象エリアにおける雰囲気ガスをチャンバ7内に導入して、当該雰囲気ガスからナトリウムを含むエアロゾル10を採取する第1工程と、採取したエアロゾルを原子に分解する第2工程と、分解により生成されたナトリウム原子をレーザ照射によりイオン化する第3工程と、飛行時間型質量分析法を用いてナトリウムイオン33を同位体別に検出し、その検出結果に基づいて冷却材ナトリウムの漏えいを検知する第4工程とを有する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
冷却材ナトリウムの微少な漏えいを検知するための方法であって、
検知対象エリアにおける雰囲気ガスをチャンバ内に導入して、当該雰囲気ガスからナトリウムを含むエアロゾルを採取する第1工程と、
上記第1工程で採取したエアロゾルを原子に分解する第2工程と、
分解により生成されたナトリウム原子をレーザ照射によりイオン化する第3工程と、
飛行時間型質量分析法を用いてナトリウムイオンを同位体別に検出し、その検出結果に基づいて冷却材ナトリウムの漏えいを検知する第4工程とを含むことを特徴とするナトリウム漏えい検知方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (6):
2G075AA07
, 2G075CA40
, 2G075DA10
, 2G075FA01
, 2G075FA11
, 2G075GA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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冷却材金属の漏洩検出方法および漏洩検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-130760
Applicant:三菱重工業株式会社
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微粒子計測装置、微粒子捕集装置および微粒子分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-020722
Applicant:理化学研究所
-
自動試料交換機能を備えた測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-368799
Applicant:株式会社島津製作所
-
ガス中の微粒子成分計測装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-255986
Applicant:三菱重工業株式会社, 財団法人電力中央研究所
-
個別粒子を生成する方法及び機器
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-538445
Applicant:サイモンフレーザーユニバーシティー
-
携帯飛行時間型質量分析システム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-501021
Applicant:ザジョンズホプキンズユニバーシティ
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Cited by examiner (6)
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冷却材金属の漏洩検出方法および漏洩検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-130760
Applicant:三菱重工業株式会社
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微粒子計測装置、微粒子捕集装置および微粒子分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-020722
Applicant:理化学研究所
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自動試料交換機能を備えた測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-368799
Applicant:株式会社島津製作所
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ガス中の微粒子成分計測装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-255986
Applicant:三菱重工業株式会社, 財団法人電力中央研究所
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個別粒子を生成する方法及び機器
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-538445
Applicant:サイモンフレーザーユニバーシティー
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携帯飛行時間型質量分析システム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-501021
Applicant:ザジョンズホプキンズユニバーシティ
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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