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J-GLOBAL ID：200903090128098245

質量分析装置及び質量分析方法

Inventor：
竹田 明弘

About 竹田 明弘

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西田 哲也

About 西田 哲也

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黒澤 智幸

About 黒澤 智幸

, 
森島 大輔

About 森島 大輔


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (1)： 平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006017284
Publication number (International publication number)：2007198884
Application date： Jan. 26, 2006
Publication date： Aug. 09, 2007
Summary：
【課題】試料の構造情報を解析する際に有効なMSnスペクトルを得ることができる質量分析装置及び質量分析方法を提供する。【解決手段】試料を分離する試料分離手段と、前記試料分離手段により分離された試料をイオン化するイオン化手段と、前記イオン化手段により生成されたイオンの中から特定のイオン種を選択して解離させる選択解離手段と、前記選択解離手段により選択及び解離が行われたイオン種に対して質量分析を行ってマススペクトルデータを取得する手段と、前記取得されたマススペクトルデータの有効性を、前記マススペクトルデータに含まれるピークの数及び強度に基づいて判定する有効性判定手段と、前記有効性判定手段の判定結果に基いて、前記選択解離手段によるイオン種の解離条件を変更する解離条件変更手段とを備えていることを特徴とする質量分析装置。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
試料を分離する試料分離手段と、 前記試料分離手段により分離された試料をイオン化するイオン化手段と、 前記イオン化手段により生成されたイオンの中から特定のイオン種を選択して解離させる選択解離手段と、 前記選択解離手段により選択及び解離が行われたイオン種に対して質量分析を行ってマススペクトルデータを取得する手段と、 前記取得されたマススペクトルデータの有効性を、前記マススペクトルデータに含まれるピークの数及び強度に基づいて判定する有効性判定手段と、 前記有効性判定手段の判定結果に基いて、前記選択解離手段によるイオン種の解離条件を変更する解離条件変更手段とを備えていることを特徴とする質量分析装置。
IPC (1)：
G01N 27/62
FI (3)：
G01N27/62 G ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 X
F-Term (12)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041FA12 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA10 ,  2G041JA02 ,  2G041KA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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