イオントラップ型質量分析装置及び方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小川勝男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001118158
Publication number (International publication number)：2002313276
Application date： Apr. 17, 2001
Publication date： Oct. 25, 2002
Summary：

【要約】【課題】無駄な時間を要することなく、イオン種に依らず高効率に解離させ、高感度MS/MS分析可能なイオントラップ型質量分析装置及び方法を提供すること。【解決手段】解離対象イオンの質量数或いは特性に応じて、CID電圧を印加する時間を、解離対象のイオンの質量対電荷比に比例させて長くする。【効果】特定イオン種を解離する為に重畳印加する補助交流電圧の印加時間を最適化することにより、解離対象イオンを高効率に解離し、無駄時間なく解離イオンの高感度分析を可能にする。

Claim (excerpt)：

イオンを生成するイオン源と、このイオンを捕捉する電極間空間を形成するイオントラップ電極と、特定周波数を持つ補助交流電界を前記電極間空間に発生する手段と、前記電極間空間から出射したイオンを検出する手段を備えたイオントラップ型質量分析装置において、前記特定周波数を持つ補助交流電界の印加時間を,解離するイオン種に応じて変更する手段を備えたことを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/42 , G01N 27/62 , H01J 49/36

FI (4)：

H01J 49/42 , G01N 27/62 G , G01N 27/62 L , H01J 49/36

F-Term (3)：

5C038JJ06 , 5C038JJ07 , 5C038JJ11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

質量分析方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-087071 Applicant：株式会社日立製作所
質量分析方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-343196 Applicant：株式会社日立製作所
プラズマイオン源質量分析装置及び分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-101179 Applicant：株式会社日立製作所

Show all

Return to Previous Page