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J-GLOBAL ID：200903090131860220
ナノ物質の質量計測方法及びその装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
三木 久巳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001158387
Publication number (International publication number)：2002350218
Application date： May. 28, 2001
Publication date： Dec. 04, 2002
Summary：
【要約】【課題】 質量分析器のような大型の装置を使用しないで、10-20g程度までのナノ物質の質量を簡単に且つ迅速に計測できる方法と装置を実現する。【解決手段】 本発明に係るナノ物質2の質量計測方法は、複数本のナノチューブ5a、5bからなるナノピンセット把持部11aでナノ物質2を把持し、この把持状態のナノピンセット把持部11aを共振させてその固有振動数fmを計測し、ナノ物質2を把持しない状態のナノピンセット把持部11aの固有振動数をf0としたとき、両固有振動数fm、f0を対比して把持されているナノ物質2の質量を導出することを特徴とする。共振方法には、ナノピンセット把持部11a近傍に外部電極6を配置し、両者間に交流電圧を印加して電気的に共振させる方法と、ナノピンセット把持部11aを支持する本体3に圧電素子7を設けて、交流電圧で圧電素子7を伸縮させて機械的に共振させる方法が提案される。
Claim (excerpt)：
ナノサイズを有するナノ物質を把持・放出することができるナノピンセットを用い、このナノピンセット把持部でナノ物質を把持し、この把持状態のナノピンセット把持部を共振させてその固有振動数fmを計測し、ナノ物質を把持しない状態のナノピンセット把持部の固有振動数をf0としたとき、両固有振動数を対比して把持されているナノ物質の質量を導出することを特徴とするナノ物質の質量計測方法。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
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