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J-GLOBAL ID:200903090224973017

半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐藤 強
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996212325
Publication number (International publication number):1998056131
Application date: Aug. 12, 1996
Publication date: Feb. 24, 1998
Summary:
【要約】【課題】 放熱性を向上させると共に、小形化を実現し、また、応力に弱い構成の半導体チップであっても、この半導体チップの2つの主面から速やかに放熱させるようにする。【解決手段】 本発明の半導体装置は、一方の主面にコレクタ電極を有すると共に他方の主面にエミッタ電極及びゲート電極を有する6個のIGBTチップ4を備え、これらIGBTチップ4を挟むように設けられ各挟む側の面にIGBTチップ4の電極に接合するための電極パターン13、14、19が配設された2枚の高熱伝導性絶縁基板2、3を備え、そして、IGBTチップ4の電極と高熱伝導性絶縁基板2、3の電極パターン13、14、19とをろう付けにより接合して構成したものである。
Claim (excerpt):
一方の主面に主電極を有すると共に他方の主面に主電極及び制御電極を有する1個或いは複数個の半導体チップと、この半導体チップを挟むように設けられ、各挟む側の面に前記半導体チップの電極に接合するための電極パターンが配設された2枚の高熱伝導性絶縁基板とを備え、前記半導体チップの電極と前記高熱伝導性絶縁基板の電極パターンとをろう付けにより接合したことを特徴とする半導体装置。
IPC (3):
H01L 25/07 ,  H01L 25/18 ,  H01L 23/373
FI (2):
H01L 25/04 C ,  H01L 23/36 M
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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