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J-GLOBAL ID：200903090288292579

感度を向上するためのイオントラップを有する四重極質量分析計

Inventor： ヘイガー,ジェイムズ ダブリュ
Applicant, Patent owner： エムディーエス インコーポレーテッド
Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001500825
Publication number (International publication number)：2003501790
Application date： May. 26, 2000
Publication date： Jan. 14, 2003
Summary：

【要約】質量分析計の方法と装置は、質量分析器と衝突セルとを有する。衝突セルは、イオンをトラップする構造を有する。前駆体イオンは、第1の質量分析器で選択され、次に、衝突セルで衝突によって誘発される解離を受ける。次に、フラグメントイオンは、適切な励起をイオンに印加することによって軸方向外側にスキャンアウトされる。次に、フラグメントイオンは、飛行時間(TOF)質量分析計によって検出できる。TOF分析計のために、フラグメントイオンを衝突セルにトラップし、またフラグメントイオンを衝突セルからスキャンアウトすることによって、感度を高めることができる。

Claim (excerpt)：

イオン流を質量分析する方法であって、 (1)第1の質量分析器を通して前記イオンを通過させて、前駆体イオンを選択するステップと、 (2)ガスを含む衝突セル内に前記前駆体イオンを引き続き通過させて、引き続く分析のために、前記前駆体イオンの解離とフラグメントイオンの形成とを引き起こすステップと、 (3)ポテンシャル障壁によって前記質量分析器および前記衝突セルの少なくとも1つにイオンをトラップし、また前記イオンを励起することによって前記質量分析器および前記衝突セルの少なくとも1つから前記イオンを軸方向にスキャンアウトし、これによって、前記イオンが前記ポテンシャル障壁を越えることを可能とするステップとを含む方法。

IPC (3)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/40

FI (4)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L ,  H01J 49/40

F-Term (4)：

5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• MS/MS型質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-351143   Applicant：株式会社島津製作所
• MALDI-TOF質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-166825   Applicant：株式会社島津製作所