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J-GLOBAL ID:200903090685558178
状況解析システムおよび状況解析方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006030710
Publication number (International publication number):2007213194
Application date: Feb. 08, 2006
Publication date: Aug. 23, 2007
Summary:
【課題】マハラノビス・タグチメソッドを使用することにより、監視対象の状況を容易かつ迅速に解析できる状況解析システムおよび状況解析方法を提供する。【解決手段】データ蓄積手段101は、監視対象から得られたデータを蓄積する。基準空間作成手段102は、データ蓄積手段101に蓄積されたデータに基づいて基準空間を作成する。データ取得手段103は、監視対象からデータを取得する。距離算出手段104は、基準空間作成手段102により作成された基準空間に、データ取得手段103で得られたデータを入力することでマハラノビス距離を算出する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
監視対象から取得されたデータに基づいて監視対象の状況を解析する状況解析システムにおいて、
監視対象から得られたデータを蓄積するデータ蓄積手段と、
前記データ蓄積手段に蓄積された前記データに基づいて基準空間を作成する基準空間作成手段と、
前記監視対象からデータを取得するデータ取得手段と、
前記基準空間作成手段により作成された前記基準空間に、前記データ取得手段で得られた前記データを入力することでマハラノビス距離を算出する距離算出手段と、
を備えることを特徴とする状況解析システム。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
5H223AA01
, 5H223CC08
, 5H223CC09
, 5H223DD03
, 5H223DD07
, 5H223DD09
, 5H223EE06
, 5H223FF06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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プラントの制御状態の解析方法及び解析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-000724
Applicant:横河電機株式会社
Cited by examiner (4)