多波長複数画面光学系

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：池田治幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003273124
Publication number (International publication number)：2005031558
Application date： Jul. 10, 2003
Publication date： Feb. 03, 2005
Summary：

【課題】外乱や光量不足或いは画像の歪み等に起因する測定精度低下が生じ難い多波長複数画面光学系を提供する。【解決手段】第1入射面36から垂直に第1プリズム34に入射した光は、一部が色分離干渉鏡48により反射されてその第1入射面36に向かい、残部は色分離干渉鏡48を透過して第1反射面42に向かい、それぞれ反射されることにより第1射出面32から射出される。このとき、第1入射面36と第1反射面42とが60度の角度を成し、且つ色分離干渉鏡48がそれらの中間に位置してそれらに対して30度の角度を成していることから、色分離干渉鏡48からそれら第1入射面36および第1反射面42に向かう光は、その色分離干渉鏡48に対して対称的な進路をとり、互いに平行且つ第1射出面32に垂直な方向に反射されるので、色分離干渉鏡48で分岐させられた光が第1射出面32の2つの領域からそれぞれ射出させられる。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

複数の光検出素子が設けられた光検出面を有する撮像素子と、平坦な第1入射面と、その第1入射面に対して60度の角度を成しその第1入射面から入射した光を反射するための平坦な第1反射面と、それら第1入射面および第1反射面の交線に平行を成し且つそれら第1入射面および第1反射面に対して30度の角度を成してそれらの間に位置すると共にその第1入射面を通して斜め方向から入射した光の一部をその第1入射面に向かって反射し残部の少なくとも一部をその第1反射面に向かって透過させるための平坦な第1の半反射面と、それら第1入射面および第1反射面に対して60度の角度を成し且つその第1の半反射面に対して垂直を成しそれら第1入射面および第1反射面でそれぞれ反射された光を射出するための平坦な第1射出面とを有してその第1射出面が前記光検出面に平行な向きで配置された第1プリズムを備え、前記第1入射面に垂直に入射した光から第1波長の第1分光と第2波長の第2分光とを抽出して相互に平行な方向に射出することにより、それら第1分光および第2分光を前記光検出面に垂直に入射させて相互に異なるその第1領域および第2領域にそれぞれ結像させるための特定波長抽出装置とを、含むことを特徴とする多波長複数画面光学系。

IPC (8)：

G02B5/04 , G01J3/14 , G01J3/36 , G01J5/60 , G02B5/26 , G02B5/28 , G02B7/00 , G02B7/18

FI (8)：

G02B5/04 C , G01J3/14 , G01J3/36 , G01J5/60 A , G02B5/26 , G02B5/28 , G02B7/00 G , G02B7/18 A

F-Term (40)：

2G020AA03 , 2G020AA04 , 2G020CB06 , 2G020CB42 , 2G020CB43 , 2G020CC27 , 2G020CD06 , 2G020CD22 , 2G066AA15 , 2G066AB06 , 2G066BA14 , 2G066BA23 , 2G066BA24 , 2G066BA25 , 2G066CA01 , 2H042AA02 , 2H042AA06 , 2H042AA23 , 2H042AA32 , 2H042CA07 , 2H042CA14 , 2H043AA04 , 2H043AA11 , 2H043AA19 , 2H043AB03 , 2H043AB09 , 2H043AD04 , 2H043AD08 , 2H043AD11 , 2H043AD21 , 2H043AE02 , 2H043CA02 , 2H048FA09 , 2H048FA12 , 2H048FA22 , 2H048FA24 , 2H048GA13 , 2H048GA23 , 2H048GA24 , 2H048GA61

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

撮像システム及びそれを用いた温度計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-088259 Applicant：三井健司
アーク溶接の溶滴温度分布測定装置と溶滴温度分布測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-133444 Applicant：ダイハツ工業株式会社

Cited by examiner (3)

温度分布測定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-008574 Applicant：株式会社ノリタケカンパニーリミテド, 北川邦行, 新井紀男
特開昭55-124379
レーザ干渉変位測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-350644 Applicant：ユニオンツール株式会社

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