Pat
J-GLOBAL ID:200903092296439735
埋め込み配線構造の形成方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
前田 実
, 山形 洋一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003271803
Publication number (International publication number):2005033050
Application date: Jul. 08, 2003
Publication date: Feb. 03, 2005
Summary:
【課題】 研磨圧力を低下させても比較的高いスループットを実現できる埋め込み配線構造の形成方法を提供する。【解決手段】 埋め込み配線構造の形成に際しては、半導体基板100上の絶縁層101に形成された溝102を埋め尽くすように、絶縁層101上にCu層105を形成し、Cu層105表面の酸化により生成された酸化層106を除去し、Cu層105上に酸化層106よりも機械的に脆弱な材料からなるキャップ層107を形成し、CMP法を用いて、溝102内にCu層105を残すように、キャップ層107、及び、Cu層105の一部を除去する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
半導体基板上の絶縁層に形成された溝を埋め尽くすように、前記絶縁層上にCuを主成分とする導電層を形成する工程と、
前記導電層表面の酸化により生成された酸化層を除去する工程と、
前記導電層上に前記酸化層よりも機械的に脆弱な材料からなるキャップ層を形成する工程と、
化学的機械研磨法を用いて、前記溝内に前記導電層を残すように、前記キャップ層、及び、前記導電層の一部を除去する工程と
を有することを特徴とする埋め込み配線構造の形成方法。
IPC (2):
FI (3):
H01L21/88 K
, H01L21/304 622X
, H01L21/88 B
F-Term (30):
5F033HH11
, 5F033HH12
, 5F033HH32
, 5F033HH33
, 5F033LL08
, 5F033MM12
, 5F033MM13
, 5F033PP15
, 5F033PP22
, 5F033PP23
, 5F033PP24
, 5F033PP27
, 5F033PP33
, 5F033QQ09
, 5F033QQ12
, 5F033QQ13
, 5F033QQ14
, 5F033QQ48
, 5F033QQ49
, 5F033QQ73
, 5F033QQ90
, 5F033QQ94
, 5F033RR04
, 5F033SS11
, 5F033WW03
, 5F033XX00
, 5F033XX01
, 5F033XX03
, 5F033XX20
, 5F033XX24
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
-
半導体装置の製造方法および半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-167904
Applicant:株式会社日立製作所
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-164672
Applicant:ソニー株式会社
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