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J-GLOBAL ID:200903092683071967
断面観察用試料の調製方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
羽鳥 修
, 松嶋 善之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003319230
Publication number (International publication number):2005084005
Application date: Sep. 11, 2003
Publication date: Mar. 31, 2005
Summary:
【課題】 固体成分及び液体成分を含む可塑性の組成物の膜の断面観察用試料を簡単に調製することが可能な、断面観察用試料の調製方法を提供すること。【解決手段】 植物の一部分からなる支持体の表面に、固体成分及び液体成分を含む可塑性の組成物の膜を形成し、該膜及び該支持体を凍結させた後、該膜を該支持体とともに割断して該膜の観察用断面を形成する。前記観察用断面を形成した後に、該観察用断面をさらに溶剤で洗浄することが好ましい。前記支持体は、植物の葉からなることが好ましい。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
植物の一部分からなる支持体の表面に、固体成分及び液体成分を含む可塑性の組成物の膜を形成し、該膜及び該支持体を凍結させた後、該膜を該支持体とともに割断して該膜の観察用断面を形成する断面観察用試料の調製方法。
IPC (1):
FI (2):
F-Term (9):
2G052DA33
, 2G052EA02
, 2G052EC22
, 2G052FA00
, 2G052FD03
, 2G052FD06
, 2G052GA35
, 2G052JA13
, 2G052JA16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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棒状化粧料の使用感の評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-275785
Applicant:花王株式会社
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顕微鏡観察用の高分子支持体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-024012
Applicant:富士写真フイルム株式会社
Cited by examiner (5)
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シリコーンゴム中におけるシリカ分散の観察方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-245808
Applicant:徳山曹達株式会社
-
顕微鏡観察用の高分子支持体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-024012
Applicant:富士写真フイルム株式会社
-
特開昭62-085840
-
走査形プローブ顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-272141
Applicant:日本電子株式会社
-
棒状化粧料の使用感の評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-275785
Applicant:花王株式会社
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