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J-GLOBAL ID:200903092698187520
診断システム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
東野 博文
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998268131
Publication number (International publication number):2000099484
Application date: Sep. 22, 1998
Publication date: Apr. 07, 2000
Summary:
【要約】【課題】 計算機の稼動中や遠隔地からであっても定常的な診断を行うことが可能な診断システムを実現する。【解決手段】 被診断対象の計算機の劣化診断を行う診断システムにおいて、計算機に関する情報の収集を行う情報収集ユニットと、通信線で接続され情報収集ユニットで収集した情報に基づき計算機の劣化診断を行う情報分析装置とを設ける。
Claim (excerpt):
被診断対象の計算機の劣化診断を行う診断システムにおいて、前記計算機に関する情報の収集を行う情報収集ユニットと、通信線で接続され前記情報収集ユニットで収集した情報に基づき前記計算機の劣化診断を行う情報分析装置とを備えたことを特徴とする診断システム。
IPC (2):
G06F 15/177 678
, G06F 11/22 360
FI (2):
G06F 15/177 678 H
, G06F 11/22 360 M
F-Term (9):
5B045AA05
, 5B045GG06
, 5B045JJ02
, 5B045JJ08
, 5B045KK03
, 5B048AA15
, 5B048CC04
, 5B048CC14
, 5B048CC15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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障害監視システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-027753
Applicant:株式会社日立製作所, 日立電子サービス株式会社, 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
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遠隔保守システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-212744
Applicant:株式会社東芝
-
制御装置信頼性診断システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-257684
Applicant:株式会社東芝
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