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J-GLOBAL ID：200903093315925774

周波数測定装置、周波数測定方法、周波数測定プログラム、及びデータ構造

Inventor：
石井 寛之

About 石井 寛之


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 高橋 勇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008001603
Publication number (International publication number)：2009162662
Application date： Jan. 08, 2008
Publication date： Jul. 23, 2009
Summary：
【課題】本発明は、広範囲に入力信号の周波数測定が可能な周波数測定装置を提供する。【解決手段】入力信号をサンプリング周波数Fsに基づきサンプリングし、Fs/2を中心とする折り返し成分を含む信号スペクトラムに基づいて入力信号周波数を測定する。第2の分岐信号の周波数をFs/4周波数分偏移した偏移周波数に変換する第1の周波数変換制御手段(23)、第1、第2の分岐信号を各々サンプリングし、各々の折り返し成分を含む各信号スペクトラムの周波数を検出する検出手段(12、13、32、33)、入力信号の周波数が、周波数領域をFs/4周波数毎に分割した各周波数分割領域の一の領域のときに、折り返し成分を含む各信号スペクトラムが出現する出現パターン情報(14a)により入力信号の周波数を判定する第1の周波数判定制御手段(14b)を含む。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
入力信号をサンプリング周波数Fsに基づいてサンプリングし、このサンプリングされたサンプリング信号の(1/2)Fsを中心とする折り返し成分を含む信号スペクトラムに基づいて前記入力信号の周波数を測定する周波数測定装置であって、 前記入力信号を分岐した第1の分岐信号及び第2の分岐信号のうち、前記第2の分岐信号の周波数を、Fs/4又は(3/4)Fs周波数分だけ偏移した偏移周波数に変換する制御を行う第1の周波数変換制御手段と、 前記第1の分岐信号及び前記第2の分岐信号を各々サンプリングし、前記第1、第2の各分岐信号の各々の折り返し成分を含む各サンプリング信号の各信号スペクトラムの周波数を各々検出する検出手段と、 前記入力信号の周波数が、周波数領域をFs/4周波数毎に分割した各周波数分割領域のうちいずれか一つの領域にあるときに、前記折り返し成分を含む前記各信号スペクトラムが出現する前記各周波数分割領域の組み合わせを示す出現パターン情報を前記入力信号の各周波数に応じて格納した出現パターン情報格納手段と、 前記検出手段にて検出された前記各信号スペクトラムの検出出現パターンに基づいて、前記出現パターン情報格納手段の出現パターン情報を参照して前記検出出現パターンに対応する前記入力信号の前記周波数分割領域を判定し、測定周波数として出力する制御を行う第1の周波数判定制御手段と、 を含むことを特徴とする周波数測定装置。
IPC (2)：
G01R 23/00 ,  G01R 23/16
FI (2)：
G01R23/00 ,  G01R23/16 B
F-Term (6)：
2G029AA02 ,  2G029AD08 ,  2G029AE05 ,  2G029AF02 ,  2G029AG01 ,  2G029AH01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (8)
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Cited by examiner (7)
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