Pat
J-GLOBAL ID:200903040075598197
シグナル・アナライザ及びこれによる測定方法並びに周波数領域データ生成方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003270247
Publication number (International publication number):2005024487
Application date: Jul. 02, 2003
Publication date: Jan. 27, 2005
Summary:
【課題】AD変換回路のサンプリング周波数による制限を超える広帯域スパンを実現する。【解決手段】前置周波数変換回路13は、被測定信号を受けて第1中間周波数を生成する。第1、第2及び第3周波数変換パス100、200及び300は、第1中間周波数の異なる周波数帯域をそれぞれ周波数変換し、時間領域データを生成する。DSP22は、複数の時間領域データのそれぞれを補間することで、3つの周波数変換パスで処理した帯域幅を合成した帯域幅の周波数領域データ生成に必要な数の時間領域データを生成し、これらから演算により1つの周波数領域データを生成する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
被測定信号を受けて周波数変換を行う前置周波数変換手段と、
該前置周波数変換手段の出力信号の異なる周波数帯域をそれぞれ周波数変換する複数の周波数変換パスと、
該複数の周波数変換パスが出力する時間領域データのそれぞれを補間してデータ数を増加させてから演算により1つの周波数領域データを生成する演算手段とを具えるシグナル・アナライザ。
IPC (1):
FI (3):
G01R23/16 Z
, G01R23/16 B
, G01R23/16 D
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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米国特許第6340883号公報
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米国特許第6356067号公報
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周波数測定方法及び周波数測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-040516
Applicant:松下電器産業株式会社
-
スペクトラム同時測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-060402
Applicant:株式会社アドバンテスト
-
瞬時周波数計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-189056
Applicant:日本電気株式会社
-
特開昭57-091455
-
サンプリングディジタイザ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-325627
Applicant:日立電子株式会社
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Cited by examiner (6)
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周波数測定方法及び周波数測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-040516
Applicant:松下電器産業株式会社
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スペクトラム同時測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-060402
Applicant:株式会社アドバンテスト
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瞬時周波数計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-189056
Applicant:日本電気株式会社
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特開昭57-091455
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サンプリングディジタイザ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-325627
Applicant:日立電子株式会社
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特開昭57-091455
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