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J-GLOBAL ID：200903093886330913

質量分析計

Inventor： 高田 安章 ,  鍋島 貴之 ,  橋本 雄一郎 ,  坂入 実
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998278472
Publication number (International publication number)：2000111526
Application date： Sep. 30, 1998
Publication date： Apr. 21, 2000
Summary：

【要約】【課題】 未知の混合物試料を、一連の測定操作により高速で計測することが可能で、操作者の手間を低減することの可能な質量分析計を提供する。【解決手段】 混合物試料を液体クロマトグラフ1により分離して導入する試料を分析する質量分析計であって、分離された試料をイオン源7によりイオン化し、この生成した試料のイオンをイオン導入細孔14a、14bから取り込んで当該イオンを質量分析部により分析するが、この質量分析部をイオントラップ型の質量分析を行うイオントラップ型質量分析部により構成すると共に、さらに、制御装置41により、分離されて導入される試料を、前記イオントラップ型質量分析部により、正イオン計測と負イオン計測との一連の測定操作により特定する。または、計測の最初に行われる正イオン計測、負イオン計測、判別により、試料の極性を自動的に選択・設定し、高速で高精度の計測を可能とし、かつ、操作者の手間を低減する。

Claim (excerpt)：

混合物試料を液相で分離する分離部において分離されて導入される試料を分析する質量分析計であって、該分離部で分離された試料をイオン化するためのイオン化手段と、該イオン化手段で生成した該試料に関するイオンを真空中に取り込むためのイオン導入細孔と、該イオン導入細孔から導入された該イオンを分析するための質量分析部とを備えたものにおいて、前記質量分析部をイオントラップ型の質量分析を行うイオントラップ型質量分析部により構成すると共に、さらに、前記分離部から導入される試料を、前記イオントラップ型質量分析部により、正イオン計測と負イオン計測との一連の測定操作により特定する手段を備えたことを特徴とする質量分析計。

IPC (4)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/447 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/00

FI (4)：

G01N 27/62 X ,  G01N 30/72 C ,  H01J 49/00 ,  G01N 27/26 331 J

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 溶液の質量分析に関する方法と装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-229891   Applicant：株式会社日立製作所
• 質量分析計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-081186   Applicant：株式会社日立製作所