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J-GLOBAL ID：200903094453739180

粒度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置

Inventor： 島岡 治夫 ,  木下 健
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997000997
Publication number (International publication number)：1998197438
Application date： Jan. 08, 1997
Publication date： Jul. 31, 1998
Summary：

【要約】【課題】粒度分布データ同士の定量的な比較がおこなえるようにする。【解決手段】 評価しようとするサンプル粒子群の粒度分布データを測定する(ステップS1)。このサンプル粒子群の粒度分布データと、予め測定して得られた良品の粒子群の粒度分布データとを各々ベクトルとして取り扱い、両ベトクルの交角指標としての、例えば余弦(cos θ)を算出する(ステップS2)。この交角指標を予め定められた所定値と比較することにより、サンプル粒子群の良否を判定する(ステップS3,S4,S5)。

Claim (excerpt)：

粒度分布範囲を複数の区間に分割し、各区間ごとの粒子量データを成分とする二つの粒度分布データの比較をおこなう方法において、前記二つの粒度分布データを、各々の粒子量データを成分とするベクトルとして扱い、これらの二つの粒度分布データのなす角度(交角)に関連した交角指標を算出する過程と、前記過程で求めた交角指標に基づいて前記二つの粒度分布データの差異の程度を判定する過程とを含むことを特徴とする粒度分布データの比較方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 粒度分布測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-118158   Applicant：株式会社島津製作所
• 粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-158170   Applicant：株式会社島津製作所
• 特開昭63-032345
  

Cited by examiner (3)

• 粒度分布測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-118158   Applicant：株式会社島津製作所
• 粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-158170   Applicant：株式会社島津製作所
• 特開昭63-032345