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J-GLOBAL ID：200903094623573770

物体識別方法および物体識別装置、並びに物体識別プログラム

Inventor：
宮▲崎▼ 新一

About 宮▲崎▼ 新一


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (3)： 渡邊 隆 ,  志賀 正武 ,  実広 信哉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003050819
Publication number (International publication number)：2004259114
Application date： Feb. 27, 2003
Publication date： Sep. 16, 2004
Summary：
【課題】照明変動、汚れ、および外形変動等にもロバストで、高速かつ高精度で物体を識別することを可能にする。【解決手段】物体の距離画像を計測する複数の距離画像計測手段と、各物体毎の外接直方体の寸法値,体積値,各特徴点の3次元位置座標の値とを対応付けて記憶するモデルデータベースと、物体の外接直方体及び体積値を求め、この物体に類似する外接直方体の寸法値及び体積値と類似する物体を物体候補としてモデルデータベースから検索し、検索された物体候補を一致度の高いものから順に並べた物体候補の識別リストを作成する第1の識別手段と、モデルデータベースに記憶されている寸法値と、体積値と、特徴点の3次元位置座標とにより、小ブロック毎に3次元形状比較を行い、各ブロック毎の形状類似度を評価し、類似度の低い物体候補を識別リストから削除する第2の識別手段とを備える。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
所定の物体の距離画像を互いに異なる複数の位置から計測する距離画像計測ステップと、 前記物体の外接直方体と、前記物体の体積値を求め、前記物体の外接直方体の寸法値と類似する寸法値および前記物体の体積値と類似する体積値に対応する物体を物体候補として、識別すべき各物体毎の外接直方体の寸法値と、各物体の体積値と、各物体の各特徴点の3次元位置座標の値とを対応付けて記憶するモデルデータベースから検索し、検索された前記物体候補を一致度の高いものから順に並べた前記物体候補の識別リストを作成する第1の識別ステップと、 前記モデルデータベースに記憶されている前記寸法値と、前記体積値と、前記特徴点の3次元位置座標とに基づいて、前記物体に定義した小ブロック毎に3次元形状比較を行い、各ブロック毎の形状類似度を評価し、類似度の低い物体候補を前記識別リストから削除する第2の識別ステップと を備えることを特徴とする物体識別方法。
IPC (3)：
G06T1/00 ,  G01B11/00 ,  G06T7/60
FI (4)：
G06T1/00 315 ,  G06T1/00 300 ,  G01B11/00 A ,  G06T7/60 150S
F-Term (34)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA11 ,  2F065AA21 ,  2F065AA59 ,  2F065FF00 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF11 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065QQ31 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DA12 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC33 ,  5L096AA06 ,  5L096AA09 ,  5L096BA03 ,  5L096BA05 ,  5L096CA05 ,  5L096FA60 ,  5L096FA63 ,  5L096FA69 ,  5L096GA08 ,  5L096GA19 ,  5L096JA03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (22)
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