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J-GLOBAL ID：200903095060828004
故障原因推測方法、故障原因推測プログラム、及び故障原因推測装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007309441
Publication number (International publication number)：2009134470
Application date： Nov. 29, 2007
Publication date： Jun. 18, 2009
Summary：
【課題】入力情報に欠損部分がある場合であっても適切に故障原因を推測することを目的とする。【解決手段】コンピュータが実行する故障原因推測方法であって、故障が発生した対象の状態を示す複数のパラメータより構成される状態情報を取得する状態情報取得手順と、前記パラメータごとに当該パラメータの異常値を識別可能なように記憶装置に記録された情報に基づいて、前記状態情報において欠損しているパラメータの値を当該パラメータの異常値によって補間する異常値補間手順と、既知の複数の事例における故障原因に対応付けられて記憶装置に記録されている状態情報と、補間された状態情報との類似度を算出し、該類似度に基づいて故障原因を推測する故障原因推測手順と、推測された故障原因を示す情報を出力する出力手順とを有することにより上記課題を解決する。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
コンピュータが実行する故障原因推測方法であって、
故障が発生した対象の状態を示す複数のパラメータより構成される状態情報を取得する状態情報取得手順と、
前記パラメータごとに当該パラメータの異常値を識別可能なように記憶装置に記録された情報に基づいて、前記状態情報において欠損しているパラメータの値を当該パラメータの異常値によって補間する異常値補間手順と、
既知の複数の事例における故障原因に対応付けられて記憶装置に記録されている状態情報と、補間された状態情報との類似度を算出し、該類似度に基づいて故障原因を推測する故障原因推測手順と、
推測された故障原因を示す情報を出力する出力手順とを有することを特徴とする故障原因推測方法。
IPC (4)：
G06N 5/04
, B60R 16/02
, G06Q 50/00
, B60S 5/00
G06N5/04 550N
, B60R16/02 650J
, G06F17/60 138
, B60S5/00
, G06N5/04 580J
