表面プラズモン共鳴測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：蛭川昌信 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998264661
Publication number (International publication number)：2000097848
Application date： Sep. 18, 1998
Publication date： Apr. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】表面プラズモン測定において、マッチングオイルを不要とし、測定作業を簡単化する。【解決手段】所定ピッチで複数のプリズム、シリンドリカルレンズ、或いはマイクロレンズアレイが形成されたシート12、13、14上に、光を照射したとき表面プラズモン共鳴を生ずる金属層11を一体に積層したものである。

Claim (excerpt)：

所定ピッチで複数のプリズムが形成されたプリズムシート上に、光を照射したとき表面プラズモン共鳴を生ずる金属層を一体に積層した表面プラズモン共鳴測定装置。

F-Term (9)：

2G059AA02 , 2G059BB10 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE20 , 2G059HH02 , 2G059JJ06 , 2G059JJ11 , 2G059KK03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平2-017431
光学的分析装置用測定チップ及びその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-323098 Applicant：大日本印刷株式会社
減衰全反射測定装置およびそれを用いた特定成分の測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-229816 Applicant：松下電器産業株式会社

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