Pat
J-GLOBAL ID:200903095867616639
距離測定システム及び距離測定方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
家入 健
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006177340
Publication number (International publication number):2008008687
Application date: Jun. 27, 2006
Publication date: Jan. 17, 2008
Summary:
【課題】 短時間で信頼性の高い距離画像を生成することができる距離測定システム及び距離測定方法を提供すること。【解決手段】 本発明にかかる距離測定システムは、取得した視差画像に基づいて距離画像を生成する視差測定型測距装置1と、入射した強度変調光から変換された光電子を時間的にずらして異なる蓄積手段に蓄積し、これらの蓄積手段に蓄積された光電子数に応じて距離情報を生成する位相TOF型測距装置2を有する。ここで、視差測定型測距装置1は、位相TOF型測距装置2によって取得された距離情報を初期値として距離画像を算出する。【選択図】 図7
Claim (excerpt):
取得した視差画像に基づいて距離画像を生成する第1の測距手段と、
入射した強度変調光から変換された光電子を時間的にずらして異なる蓄積手段に蓄積し、これらの蓄積手段に蓄積された光電子数に応じて距離情報を生成する第2の測距手段とを備えた距離測定システムであって、
前記第1の測距手段は、前記第2の測距手段によって取得された距離情報を初期値として距離画像を算出する距離測定システム。
IPC (3):
G01C 3/06
, G01S 17/36
, G01S 17/89
FI (6):
G01C3/06 130
, G01C3/06 110V
, G01C3/06 120Q
, G01C3/06 140
, G01S17/36
, G01S17/89
F-Term (35):
2F112AC06
, 2F112AD01
, 2F112AD10
, 2F112CA04
, 2F112CA05
, 2F112DA09
, 2F112DA15
, 2F112DA25
, 2F112DA26
, 2F112DA28
, 2F112EA05
, 2F112EA07
, 5J084AA05
, 5J084AD01
, 5J084AD02
, 5J084AD05
, 5J084AD07
, 5J084BA03
, 5J084BA11
, 5J084BA36
, 5J084BA40
, 5J084BA50
, 5J084BB26
, 5J084BB28
, 5J084CA03
, 5J084CA07
, 5J084CA34
, 5J084CA44
, 5J084CA45
, 5J084CA65
, 5J084CA67
, 5J084CA69
, 5J084CA70
, 5J084EA04
, 5J084EA07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
視差画像生成装置および視差画像生成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-063194
Applicant:富士ゼロックス株式会社
-
三次元画像計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-153361
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
固体撮像素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-238951
Applicant:理化学研究所, 市川道教
Cited by examiner (7)
-
三次元画像計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-153361
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
自動車の走行制御装置の先行車検出機構
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-275184
Applicant:三菱自動車工業株式会社
-
車外監視装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-320978
Applicant:富士重工業株式会社
-
距離画像センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-347715
Applicant:松下電工株式会社
-
固体撮像素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-238951
Applicant:理化学研究所, 市川道教
-
3次元画像検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-343695
Applicant:旭光学工業株式会社
-
特開平4-276585
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