電子スペクトル測定方法及び装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：平木祐輔 , 関谷三男 , 渡辺敏章 , 今村健一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004336581
Publication number (International publication number)：2006145406
Application date： Nov. 19, 2004
Publication date： Jun. 08, 2006
Summary：

【課題】界面のおける電子スペクトルを精度良く評価するとともに、検出作業におけるスループットを向上させる。【解決手段】分光測定装置は、周波数ω1の挟帯域なフェムト秒可視・近赤外光の発光と、周波数ω2が広帯域な可視・近赤外パルス光L2は、白色光を540nm以下の短波長側をカットするフィルターにより得る。周波数ω1の狭帯域なパルス光L1と540nmから1.1μmの範囲に広がる周波数ω2の広帯域な可視・近赤外パルス光L2とを、試料1の気/液界面1aの同一点に非同軸的に集光する。両光L1、L2が、界面1aにおいて、時間的・空間的に一致したとき、和周波ω1+ω2の信号光L4が発生する。信号光L4はポリクロメーター5に導かれる。ポリクロメーター5は、回折格子を1枚有する、分光器内の凹面鏡の焦点距離300mm、回折格子の刻線数300本/mmブレーズに導かれて波長分散され、CCD7によって検出される。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

2次非線形電子スペクトル測定装置であって、狭帯域近赤外パルス光である第1のパルス光と、広帯域可視・近赤外パルス光である第2のパルス光とを、前記試料界面のある点に非同軸的に集光させるパルス光集光手段と、該パルス光集光手段により集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との広帯域和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出手段とを有することを特徴とする電子スペクトル測定装置。

IPC (1)：

G01N 21/27

FI (1)：

G01N21/27 H

F-Term (10)：

2G059AA03 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059GG08 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059HH03 , 2G059KK04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

和周波発生分光装置および方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-152230 Applicant：財団法人神奈川科学技術アカデミー
和周波発生分光装置および方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-282209 Applicant：財団法人神奈川科学技術アカデミー

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

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