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J-GLOBAL ID：200903096479287182

評価方法

Inventor：
松本 章男

About 松本 章男

, 
井上 茂

About 井上 茂


Applicant, Patent owner：
富士通株式会社

About 富士通株式会社


Agent (1)： 岡田 守弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003097169
Publication number (International publication number)：2004303069
Application date： Mar. 31, 2003
Publication date： Oct. 28, 2004
Summary：
【課題】本発明は、製品あるいは工場の間の製造力を評価する評価方法に関し、異なる製品や工場に対してアンケートし製品(工場)間の製造力評価を客観的かつ定量的に行なうと共に他の製品(工場)の改善事例を提示することを目的とする。【解決手段】製品あるいは工場について評価に必要なデータをアンケートして収集した原始データから、製造力を表現する複数の製造力評価項目について、当該製造力評価項目を構成する複数のプロセス内の各評価項目の原始データを取り出すステップと、取り出した評価項目の原始データをもとに規格化した点数および当該製品(あるいは工場)の重要度をもとに補正した点数補正値を算出し、これを規格化した総合点を算出するステップと、算出した評価項目毎の総合点に当該評価項目間重み係数をそれぞれ演算し総和を求めてプロセス毎の評価値を算出するステップと、算出したプロセス毎の評価値に当該プロセス間重み係数をそれぞれ演算し総和を求めて製造力評価項目の製造力評価値を算出するステップととを有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
製品あるいは工場の間の製造力を評価する評価方法において、 製品あるいは工場について評価に必要なデータをアンケートして収集した原始データから、製造力を表現する複数の製造力評価項目について、当該製造力評価項目を構成する複数のプロセス内の各評価項目の前記原始データを取り出すステップと、 前記取り出した評価項目の原始データをもとに規格化した点数および当該製品(あるいは工場)の重要度をもとに補正した点数補正値を算出し、これかを規格化した総合点を算出するステップと、 前記算出した評価項目毎の総合点に当該評価項目間重み係数をそれぞれ演算し総和を求めてプロセス毎の評価値を算出するステップと、 前記算出したプロセス毎の評価値に当該プロセス間重み係数をそれぞれ演算し総和を求めて製造力評価項目の製造力評価値を算出するステップと を有する評価方法。
IPC (1)：
G06F17/60
FI (3)：
G06F17/60 150 ,  G06F17/60 106 ,  G06F17/60 174
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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