粒子検出方法及び粒子検出装置とこれを用いた空調装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：岡田敬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994089868
Publication number (International publication number)：1995294415
Application date： Apr. 27, 1994
Publication date： Nov. 10, 1995
Summary：

【要約】【目的】所望の粒子径の粒子を簡単な受光手段で検出できる粒子検出方法及ぶ粒子検出装置及びこれを用いた空調装置を提供することを目的とする。【構成】レーザ光を出力する半導体レーザ1と、半導体レーザ1から出力されるレーザ光を粒子に照射するための平行光に変換するコリメータレンズ2と、変換されたレーザ光が所定粒子径を有する粒子により回折されてなる光のうち、回折光強度分布において所定の副極大又はその近傍にある部分の光を取り出せる遮蔽部材5と、遮蔽部材5から出た光を集光させる集光手段6と、集光手段6からの集光された光を受光する受光手段7と、を備えた。

Claim (excerpt)：

光を照射して生じた回折光を用いて粒子を検出することを特徴とする粒子検出方法。

IPC (3)：

G01N 15/14 , F24F 13/28 , G01N 15/02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

特開昭62-228136
粒度分布測定器の検定基準用固定標本の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-304431 Applicant：株式会社セイシン企業
粒度分布測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-022259 Applicant：株式会社小野測器

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