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J-GLOBAL ID：200903096771623754

高分子材料の密度測定方法

Inventor： 田辺 和俊 ,  松本 高利 ,  佐伯 和光 ,  天野 敏男
Applicant, Patent owner： オプト技研株式会社 ,  独立行政法人産業技術総合研究所 ,  富山県
Agent (1)： 久保田 耕平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001147597
Publication number (International publication number)：2002340792
Application date： May. 17, 2001
Publication date： Nov. 27, 2002
Summary：

【要約】【課題】 従来の中赤外線スペクトル、核磁気共鳴(NMR)スペクトル等を測定する方法に比して、より簡便、且つ迅速な高分子材料の密度測定方法及び該密度測定方法を利用する高分子材料廃棄物のリサイクル方法を提供する。【解決手段】 密度測定対象の高分子材料について近赤外線の波長範囲における近赤外線スペクトルを測定し、近赤外線スペクトルデータに対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法(ニューラルネットワーク、主成分分析法等)を適用し、データ解析手法で取得された情報に基づいて高分子材料の密度を測定する。また、高分子材料のリサイクル方法において上記密度測定方法を用いてリサイクルに供する高分子材料廃棄物を判別する。

Claim (excerpt)：

密度測定対象の高分子材料について近赤外線の波長範囲における近赤外線スペクトルを測定し、該近赤外線スペクトルのデータに対してケモメトリックスにおけるデータ解析手法を適用し、該データ解析手法で取得された情報に基づいて該高分子材料の密度を測定することを特徴とする高分子材料の密度測定方法。

F-Term (13)：

2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059BB15 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ18 ,  2G059MM03 ,  2G059NN01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 高分子化合物の不良品分離方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-337787   Applicant：三井化学株式会社
• 検査対象物質判定方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-015770   Applicant：旭化成工業株式会社
• 近赤外分析による製造運転制御方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-104704   Applicant：三井化学株式会社
• 紙パックの識別方法および選別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-036405   Applicant：三菱重工業株式会社