物理量測定システム

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：絹谷信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007070630
Publication number (International publication number)：2008232726
Application date： Mar. 19, 2007
Publication date： Oct. 02, 2008
Summary：

【課題】温度変化の影響がない物理量測定システムを提供する。【解決手段】ブラッグ回折格子2の1/10損失帯域内に3個以上の出力チャンネルの中心波長が含まれるアレイ導波路回折格子6と、出力チャンネルの中心波長がブラッグ回折格子2の反射中心波長の短波長側となる出力チャンネルに対応する受光信号から第1のグループ信号を演算し、ブラッグ回折格子2の反射中心波長の長波長側となる出力チャンネルに対応する受光信号から第2のグループ信号を演算し、これら第1、第2のグループ信号の差分信号から物理量による上記反射中心波長の変化を検出する反射中心波長変化検出部8とを備えた。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

ブラッグ回折格子が形成された光ファイバと、該光ファイバに接続され、上記ブラッグ回折格子の反射中心波長の変化帯域を包含する発光帯域を有する光源と、該光源と上記光ファイバの間に光分波器を介して接続され、上記ブラッグ回折格子の1/10損失帯域内に3個以上の出力チャンネルの中心波長が含まれるアレイ導波路回折格子と、該アレイ導波路回折格子の各出力チャンネルごとの出力光を受光する受光素子と、出力チャンネルの中心波長が上記ブラッグ回折格子の反射中心波長の短波長側となる出力チャンネルに対応する受光信号から第1のグループ信号を演算し、上記ブラッグ回折格子の反射中心波長の長波長側となる出力チャンネルに対応する受光信号から第2のグループ信号を演算し、これら第1、第2のグループ信号の差分信号から物理量による上記反射中心波長の変化を検出する反射中心波長変化検出部とを備えたことを特徴とする物理量測定システム。

IPC (2)：

G01D 5/353 , G01D 5/26

FI (2)：

G01D5/26 D , G01D5/26 G

F-Term (7)：

2F103BA01 , 2F103BA17 , 2F103CA04 , 2F103CA06 , 2F103EC08 , 2F103EC09 , 2F103EC10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

特許第3760649号公報
高速波長検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-073569 Applicant：日立電線株式会社, 財団法人次世代金属・複合材料研究開発協会
物理量測定システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-352249 Applicant：富士電機株式会社

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Cited by examiner (4)

特許第3760649号
波長多重光監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-194216 Applicant：日本電信電話株式会社
波長監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-244953 Applicant：日本電信電話株式会社

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