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J-GLOBAL ID:200903097740307214

発光測定装置、蛍光測定装置、発光測定方法及び蛍光測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999374846
Publication number (International publication number):2001188044
Application date: Dec. 28, 1999
Publication date: Jul. 10, 2001
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 検査対象物の測定にあたって測定の行い方に汎用性をもたせるようにした発光測定装置及び蛍光測定装置を提供する。また、テーパファイバを利用するにあたって、検査対象物の撹拌中での測定を可能にした発光測定方法及び蛍光測定方法を提供する。【解決手段】 発光測定装置1において、上下機構50により光検出手段90を上下動させ、テーパファイバ46を適切な位置に配置させることによって、マイクロプレート2の底面から出る光の状態をテーパファイバ46によって測定する。更に、マイクロプレートホルダ24には、水平方向の撹拌振動を付与する振動手段40が設けられ、上下機構50及とテーパファイバ46との組み合わせによって、極めて高い汎用性が生み出されている。
Claim (excerpt):
マイクロプレートに設けられた複数のウエル内の検査対象物の発光状態を測定する発光測定装置において、前記マイクロプレートを載置させるマイクロプレートホルダと、前記マイクロプレートの検査位置の下方に配置させて前記マイクロプレート内の前記検査対象物の光を検出する光検出手段と、前記光検出手段を上下動させる上下機構とを備え、前記マイクロプレートホルダは、水平方向の撹拌振動を与える振動手段を有し、前記光検出手段は、前記マイクロプレートの下方に位置して前記マイクロプレートを透過した光を入射させるテーパファイバと、前記テーパファイバの下方に位置して前記テーパファイバの下面から出射した光を捕捉する光検出部とを備えたことを特徴とする発光測定装置。
IPC (6):
G01N 21/64 ,  G01J 1/02 ,  G01N 21/03 ,  G01N 35/04 ,  G01N 21/75 ,  G01N 33/483
FI (7):
G01N 21/64 Z ,  G01N 21/64 F ,  G01J 1/02 M ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 35/04 G ,  G01N 21/75 Z ,  G01N 33/483 C
F-Term (46):
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB19 ,  2G043GB21 ,  2G043HA05 ,  2G043LA03 ,  2G045AA24 ,  2G045CB01 ,  2G045FA11 ,  2G045FB07 ,  2G045FB12 ,  2G045GC15 ,  2G054AA08 ,  2G054CE02 ,  2G054EA03 ,  2G054FA02 ,  2G054FA32 ,  2G054FA33 ,  2G054FB08 ,  2G054GA04 ,  2G054GB01 ,  2G054GE08 ,  2G057AA04 ,  2G057AC01 ,  2G057BA03 ,  2G057DB05 ,  2G057HA02 ,  2G058CA01 ,  2G058CB08 ,  2G058CB15 ,  2G058CB20 ,  2G058CC02 ,  2G058CD11 ,  2G058CF13 ,  2G058GA01 ,  2G065AB11 ,  2G065BA04 ,  2G065BB04 ,  2G065BC21
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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