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J-GLOBAL ID:200903097775172621

MALDI質量分析法のためのマトリックス干渉の軽減

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006523898
Publication number (International publication number):2007502980
Application date: Aug. 09, 2004
Publication date: Feb. 15, 2007
Summary:
本教示は、分子のマトリックス支援レーザー脱離イオン化(MALDI)質量分析法のために有用なプレートおよびそのプレートを作製するためのプロセスに関する。疎水性コーティングおよびMALDIマトリックス材料とポリマーのような境界剤との混合物の薄膜コーティングを含む複合コーティングを備える、MS分析またはMS-MS分析のために適したMALDIプレートが開示される。本教示に従って作製されるMALDIプレートは、MALDI-MSスペクトルの低質量領域(1,000ダルトン未満)におけるマトリックスイオンの抑制のために有用である。
Claim (excerpt):
MALDI分析のためのサンプルプレートであって、該サンプルプレートは、第一の表面を有する導電性の基板を備え、該第一の表面の少なくとも一部が、疎水性コーティングおよびマトリックスと境界ポリマーとの薄膜混合物のコーティングを含む複合コーティングでコーティングされている、サンプルプレート。
IPC (2):
G01N 27/62 ,  H01J 49/16
FI (3):
G01N27/62 F ,  H01J49/16 ,  G01N27/62 V
F-Term (16):
2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA18 ,  2G041EA01 ,  2G041EA04 ,  2G041FA07 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041HA01 ,  2G041JA06 ,  2G041JA07 ,  2G041JA08 ,  5C038GG07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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