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J-GLOBAL ID：200903098011692619
光周波数測定装置および測定方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
古谷 史旺
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002215590
Publication number (International publication number)：2004061126
Application date： Jul. 24, 2002
Publication date： Feb. 26, 2004
Summary：
【課題】ビート光を生成する基準レーザ光の縦モードを確定し、被検レーザ光の光周波数を一意に決定する。【解決手段】周波数fm の変調信号により駆動され、縦モード間隔fm の光コムを発生させるマルチモード光源と、光コムと被検レーザ光を合波する光合波手段と、合波された光コムの1つの縦モードと被検レーザ光のビート光を電気信号に変換する光検出手段と、電気信号の周波数fを測定する周波数カウンタとを備え、被検レーザ光の光周波数を測定する光周波数測定装置において、変調信号の周波数を変化させて光コムの縦モード間隔を変化させる手段と、光コムのすべての縦モードの光周波数を同一方向に偏移させる光周波数偏移手段と、縦モード間隔および縦モードの光周波数偏移に応じて測定される電気信号の周波数fの変化分から被検レーザ光の光周波数を決定する光周波数計数回路とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
周波数fm の変調信号により駆動され、基準光周波数ν0 の基準モードを中心に縦モード間隔fm の光コムを発生させるマルチモード光源と、
前記マルチモード光源から出力される光コムと被検レーザ光を合波する光合波手段と、
前記光合波手段で合波された光を入力し、前記光コムの1つの縦モードと被検レーザ光のビート光を電気信号に変換する光検出手段と、
前記光検出手段から出力される電気信号の周波数fを測定する周波数カウンタとを備え、前記被検レーザ光の光周波数を測定する光周波数測定装置において、
前記変調信号の周波数を変化させて前記光コムの縦モード間隔を変化させる手段と、
前記光コムのすべての縦モードの光周波数を同一方向に偏移させる光周波数偏移手段と、
前記縦モード間隔および縦モードの光周波数偏移に応じて測定される前記電気信号の周波数fの変化分から前記被検レーザ光の光周波数を決定する光周波数計数回路と
を備えたことを特徴とする光周波数測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
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光スペクトラム測定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-261427
Applicant：アンリツ株式会社
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光周波数基準光源
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平7-188436
Applicant：アンリツ株式会社
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光周波数測定システム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-370491
Applicant：科学技術振興事業団
Article cited by the Patent：
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