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J-GLOBAL ID：200903098446611599

球面収差測定装置

Inventor：
寺島 健太郎

About 寺島 健太郎


Applicant, Patent owner：
シャープ株式会社

About シャープ株式会社


Agent (3)： 原 謙三 ,  木島 隆一 ,  金子 一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003043107
Publication number (International publication number)：2004251783
Application date： Feb. 20, 2003
Publication date： Sep. 09, 2004
Summary：
【課題】光ピックアップ装置の球面収差を測定する際、高価な装置を必要としない、また、光利用効率の低下が生じない、さらに球面収差の調整に煩雑な工程がなく時間を長くかけなくてすむ、球面収差測定装置を提供する。【解決手段】光ピックアップ装置の対物レンズ6から出射し、カバーガラス14に対して収束、発散した光ビームを、結合レンズ16を介して集光レンズ22により収差検出用受光素子23に集光させる。収差検出用受光素子23では、集光された光ビームの断面において、光軸に対して近傍の第1受光領域の受光量、及び光軸に対して遠方の第2受光領域の受光量をそれぞれ測定することができ、かつ、球面収差が最小になるときに、各受光領域における受光量の関係が予め定めた関係になるように設定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
光源からの光ビームを、球面収差補償手段を介した後、対物レンズにより記録媒体の記録面を保護する光透過層を介して上記記録面上に集光させる光ピックアップ装置の、球面収差を測定する球面収差測定装置において、 上記光ピックアップ装置の対物レンズから出射し、上記光透過層と光学的に等価な光学部材に対して収束、発散した光ビームを、所定の焦点に対して集光させる集光手段と、 上記集光手段により集光された光ビームを受光するように上記焦点の位置に配置された受光手段とを備え、 上記受光手段は、上記集光された光ビームの断面において、光軸に対して近傍の第1受光領域の受光量、及び光軸に対して遠方の第2受光領域の受光量をそれぞれ測定可能であり、かつ、上記球面収差補償手段を調整して上記光学部材に対して集光された光ビームの球面収差が最小になるときに、上記第1及び第2受光領域における受光量の関係が予め定めた関係になるように設定されていることを特徴とする球面収差測定装置。
IPC (7)：
G01M11/02 ,  G01B11/24 ,  G01M11/00 ,  G11B7/08 ,  G11B7/125 ,  G11B7/135 ,  G11B7/22
FI (7)：
G01M11/02 B ,  G01M11/00 T ,  G11B7/08 A ,  G11B7/125 B ,  G11B7/135 Z ,  G11B7/22 ,  G01B11/24 A
F-Term (34)：
2F065AA53 ,  2F065CC22 ,  2F065FF01 ,  2F065GG06 ,  2F065GG21 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ23 ,  2F065LL36 ,  2F065QQ25 ,  2G086EE02 ,  2G086HH06 ,  5D117CC07 ,  5D117KK02 ,  5D117KK15 ,  5D117KK17 ,  5D117KK18 ,  5D789AA17 ,  5D789AA38 ,  5D789AA40 ,  5D789EB03 ,  5D789EB09 ,  5D789EB10 ,  5D789EC01 ,  5D789JA02 ,  5D789JA09 ,  5D789JA43 ,  5D789JB02 ,  5D789JB10 ,  5D789KA17 ,  5D789KA22 ,  5D789NA02 ,  5D789PA02 ,  5D789PA05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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