ドット計測方法及び装置、プログラム、並びに画像形成装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松浦憲三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007187242
Publication number (International publication number)：2009025094
Application date： Jul. 18, 2007
Publication date： Feb. 05, 2009
Summary：

【課題】ドット着弾位置及びドット径(液滴体積)を同時に高精度で測定可能とするドット計測技術を提供する。【解決手段】各ノズルに対応したドット列によるラインパターンが形成された媒体を第1の方向に搬送しつつ、ラインパターンに対して所定の角度で交差する受光素子列を有する撮像装置を第1の方向と異なる第2の方向に移動させながらラインパターンを撮像し、当該撮像画像から各ラインパターンを横切る1次元画素列の画像信号値の変動を表すプロファイルブラフを複数取得する。各プロファイルグラフから各ラインパターンの濃度中心に対応する極値位置と、当該ラインパターンの左右両エッジに対応する第1エッジ位置及び第2エッジ位置を算出し、最小二乗法により、ライン中心近似直線、第1エッジ近似直線、第2エッジ近似直線を得る。予め知見しておいたライン幅とドット径の相関からドット径を求める。【選択図】図9

Claim (excerpt)：

複数のノズルが配列された液体吐出ヘッドの各ノズルから被吐出媒体上に液滴を吐出しつつ、前記液体吐出ヘッドと前記被吐出媒体とを相対的に移動させ、各ノズルから吐出された液滴を前記被吐出媒体上に液滴を着弾させることにより、各ノズルに対応したドット列によるラインパターンを形成するラインパターン形成工程と、前記ラインパターンが形成された被吐出媒体を第1の方向に搬送しつつ、前記ラインパターンのライン方向に対して所定の角度で交差する受光素子列を有する撮像装置を前記第1の方向と異なる第2の方向に移動させながら、前記ラインパターンを前記撮像装置により撮像することにより、当該撮像画像を表す電子画像データを取得するパターン読取工程と、前記電子画像データから前記ラインパターンを斜めに横切る1次元画素列における画像信号値の変動を表すプロファイルブラフを、1つのラインパターンに対して複数取得するプロファイルグラフ取得工程と、 1つのラインパターンに対して複数取得された各プロファイルグラフからそれぞれ、当該ラインパターンの濃度中心に対応する極値位置と、当該ラインパターンの左右両エッジに対応する第1エッジ位置及び第2エッジ位置を算出する特徴位置算出工程と、前記特徴位置算出工程により同じラインパターンに対して複数算出された極値位置、第1エッジ位置及び第2エッジ位置のデータについて、それぞれ最小二乗法を用いて、当該ラインパターンの濃度中心を示す極値位置に対応するライン中心近似直線と、当該ラインパターンの第1エッジ位置に対応する第1エッジ近似直線と、当該ラインパターンの第2エッジ位置に対応する第2エッジ近似直線とを算出する近似直線算出工程と、前記近似直線算出工程で得られた各ラインパターンに対するライン中心近似直線から、隣り合うラインパターンに対応するライン中心近似直線間の垂直距離を計算し、その値からドットの着弾位置を求める着弾位置算出工程と、前記近似直線算出工程で得られた同じラインパターンに対する第1エッジ近似直線と第2エッジ近似直線の直線間垂直距離を計算し、その値を当該ラインパターンのライン幅として求めるライン幅計算工程と、予め所定の液と被吐出媒体の組み合わせにより、被吐出媒体上に形成されるドット径とライン幅の関係、及び吐出液滴の体積とライン幅の関係のうち少なくとも一つ関係を知得しておく相関情報知得工程と、前記ライン幅計算工程で求められたライン幅の値と前記相関情報知得工程で知得されている関係に基づいて、ライン幅の値から、これに対応するドット径及び吐出液滴の体積のうち少なくとも一つの値を求める計測値算出工程と、を備えたことを特徴とするドット計測方法。

IPC (3)：

G01B 11/08 , B41J 2/01 , G01B 11/00

FI (3)：

G01B11/08 H , B41J3/04 101Z , G01B11/00 H

F-Term (26)：

2C056EB27 , 2C056EB36 , 2C056EB40 , 2C056EB46 , 2C056FA13 , 2C056HA58 , 2F065AA03 , 2F065AA09 , 2F065AA12 , 2F065AA22 , 2F065AA26 , 2F065AA59 , 2F065BB02 , 2F065BB28 , 2F065CC00 , 2F065FF04 , 2F065JJ02 , 2F065JJ03 , 2F065JJ09 , 2F065JJ25 , 2F065JJ26 , 2F065MM03 , 2F065QQ03 , 2F065QQ18 , 2F065QQ24 , 2F065QQ32

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

ドットずれ検出方法、ドットずれ検出プログラムおよび基準直線取得方法、並びにドットずれ検出装置および液滴吐出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-105757 Applicant：セイコーエプソン株式会社
インク吐出量の測定方法及び測定装置及びプリント装置及びプリント装置におけるインク吐出量の測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-330676 Applicant：キヤノン株式会社

Return to Previous Page