Pat
J-GLOBAL ID:200903099600460007

インピーダンスによる測定装置および方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 太田 恵一
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2005505531
Publication number (International publication number):2005537498
Application date: Jul. 18, 2003
Publication date: Dec. 08, 2005
Summary:
本発明は電極の表にある細胞と/あるいは分子を監視する一つの装置である。本装置は細胞と/あるいは分子によるインピーダンスの変化で細胞と/あるいは分子を検定する。装置の一つの実例は一つの長い軸に沿う二つの末端の向かう基板を含む。一連の電極陣列は基板に位置を決める。それぞれの電極陣列は少なくとも二つの電極を含み、また電極陣列では、それぞれの電極は一つの絶縁材料ゾーンで少なくとも一対の隣接する電極と隔てられる。電極はその一番広いところの幅を絶縁材料ゾーンの幅の1.5倍〜10倍とする。装置は一つの電気導線をも含み、長い軸にそって十分に基板の二つの向かう末端にある一つに伸ばし、またその他の電気導線と互いに交錯しない。電気導線は少なくとも一つの電極陣列とつなぐ。
Claim (excerpt):
一種の細胞あるいは分子の附着によって、電極表面にて生じるインピーダンスの変化を測定して、電極表面に細胞あるいは分子附着されている器材をチェックすることができる。その器材には、下記のものが含まれる。 イ.1つの絶縁材料で、縦軸方向に2つの末端があるベース。 ロ.1つのベース上に位置している複数の電極陣列、その中、各電極陣列には 、少なくとも2つの電極が含まれており、1つの電極には少なくとも1つ の隣接電極があって、1つの絶縁材料エリアによって隔てられる。電極幅 の最大値は、絶縁材料エリア幅の1.5〜10倍である。 ハ.伝導線は、大体縦軸に沿って、上記ベースの両端中の1つに伸ばされてお り、しかも、各伝導線は、少なくとも1つの電極陣列を含む回路と連結さ れている。
IPC (8):
G01N27/02 ,  C12M1/34 ,  G01N27/06 ,  G01N27/12 ,  G01N27/30 ,  G01N27/327 ,  G01N27/416 ,  G01N37/00
FI (13):
G01N27/02 Z ,  C12M1/34 A ,  G01N27/06 A ,  G01N27/12 N ,  G01N27/30 F ,  G01N37/00 101 ,  G01N27/30 353Z ,  G01N27/30 357 ,  G01N27/30 355 ,  G01N27/30 351 ,  G01N27/46 336B ,  G01N27/46 336M ,  G01N27/46 386Z
F-Term (50):
2G046AA34 ,  2G046BA01 ,  2G046BA09 ,  2G046BB02 ,  2G046BB04 ,  2G046BC03 ,  2G046BC05 ,  2G046DC14 ,  2G046DC16 ,  2G046DC17 ,  2G046DC18 ,  2G046EB09 ,  2G046FA01 ,  2G046FE00 ,  2G046FE02 ,  2G046FE03 ,  2G046FE10 ,  2G046FE11 ,  2G046FE15 ,  2G046FE25 ,  2G046FE31 ,  2G046FE38 ,  2G046FE39 ,  2G060AA06 ,  2G060AC10 ,  2G060AE40 ,  2G060AF06 ,  2G060AF08 ,  2G060AG04 ,  2G060AG10 ,  2G060AG11 ,  2G060AG15 ,  2G060FA05 ,  2G060HC08 ,  2G060HC13 ,  2G060HC19 ,  2G060HC21 ,  2G060HC22 ,  2G060HD03 ,  2G060KA05 ,  4B029AA07 ,  4B029AA08 ,  4B029AA21 ,  4B029BB01 ,  4B029BB11 ,  4B029CC02 ,  4B029CC08 ,  4B029FA01 ,  4B029FA09 ,  4B029FA11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (13)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page