Pat
J-GLOBAL ID:200903099725317672

テラヘルツ波発生装置及びそれを用いた計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  石田 悟
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004131924
Publication number (International publication number):2005317669
Application date: Apr. 27, 2004
Publication date: Nov. 10, 2005
Summary:
【課題】 テラヘルツ波を好適な条件で出力することが可能なテラヘルツ波発生装置、及びそれを用いた計測装置を提供する。【解決手段】 レーザ光源10及び光分岐器11を有し、テラヘルツ波の発生に用いられる励起光を供給する励起光供給部1と、2つのテラヘルツ波発生素子21、22を有し、発生素子21、22に対して光分岐器11で分岐された励起光を入射してテラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生部2とを備えてテラヘルツ波発生装置を構成する。また、励起光供給部1と、テラヘルツ波発生部2との間に、光遅延器31、32を有するタイミング調整部3を設置する。タイミング調整部3は、発生素子21、22のそれぞれに対する励起光の入射タイミングを調整することによって、テラヘルツ波の出力条件を制御する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
テラヘルツ波の発生に用いられる励起光を供給する励起光供給手段と、 複数のテラヘルツ波発生素子を有し、前記複数のテラヘルツ波発生素子のそれぞれに対して前記励起光を入射してテラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生手段と、 前記複数のテラヘルツ波発生素子のそれぞれに対する前記励起光の入射タイミングを調整することによって、前記テラヘルツ波発生手段から出力される前記テラヘルツ波の出力条件を制御するためのタイミング調整手段と を備えることを特徴とするテラヘルツ波発生装置。
IPC (2):
H01S3/10 ,  G01N22/00
FI (3):
H01S3/10 A ,  H01S3/10 C ,  G01N22/00 M
F-Term (8):
5F172NN17 ,  5F172NN26 ,  5F172NN29 ,  5F172NR02 ,  5F172NR12 ,  5F172NR24 ,  5F172NR30 ,  5F172ZZ13
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • テラヘルツ波発生装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-037417   Applicant:浜松ホトニクス株式会社
  • テラヘルツ波分光器
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-163974   Applicant:浜松ホトニクス株式会社
Cited by examiner (3)
  • テラヘルツ波発生装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-211012   Applicant:浜松ホトニクス株式会社
  • 固体光源装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-341797   Applicant:三菱電機株式会社
  • 光反応装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-024022   Applicant:浜松ホトニクス株式会社
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • Velocity matching by pulse front tilting for large area THz-pulse generation
  • Velocity matching by pulse front tilting for large area THz-pulse generation

Return to Previous Page