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J-GLOBAL ID:200903099822442740
生産管理情報出力装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中島 淳 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998097126
Publication number (International publication number):1999296208
Application date: Apr. 09, 1998
Publication date: Oct. 29, 1999
Summary:
【要約】【課題】 半導体製品の出荷量を低下させずに生産TATの短縮を図る上で有用な情報を出力する。【解決手段】 生産進捗管理システムでは、製造ラインの状況を示す情報として、各工程の処理実績量、各工程の仕掛り在庫量(=(入荷量+在庫量))等が算出される。また、各工程での所定期間(例えば1日)毎の(入荷量+在庫量)に対する出荷量のデータがグラフにプロットされ、各工程毎のグラフとしてデータ表示端末に表示される。生産管理者は、このような(入荷量+在庫量)に対する出荷量をプロットしたグラフを見て、(入荷量+在庫量)を増やしても出荷量が頭打ちになるところを検出し、該出荷量が頭打ちになるところ近辺で目標出荷量S1を設定し、該目標出荷量S1が得られる範囲で(入荷量+在庫量)を絞ることができる。例えば、(入荷量+在庫量)をI1に設定することができる。
Claim (excerpt):
半導体製造の各工程についての所定期間毎の入荷量情報、在庫量情報及び出荷量情報を収集する第1の情報収集手段と、前記第1の情報収集手段により収集された入荷量情報、在庫量情報及び出荷量情報に基づいて、各工程での入荷量と在庫量との和に対する出荷量をプロットしたグラフを各工程毎に出力する第1の出力手段と、を有する生産管理情報出力装置。
IPC (3):
G05B 15/02
, H01L 21/02
, B23Q 41/08
FI (3):
G05B 15/02 Z
, H01L 21/02 Z
, B23Q 41/08 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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半導体ウェーハ生産ラインの管理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-221127
Applicant:山形日本電気株式会社
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プロセス制御方法及びシステム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-532804
Applicant:ハーゲンメソッドプティ.リミテッド
-
投入制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-161284
Applicant:松下電工株式会社
-
作業情報表示装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-154932
Applicant:村田機械株式会社
-
搬送システムのラインバランス管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-212465
Applicant:ブラザー工業株式会社
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製造不良解析支援システム、製造システム、および製造不良解析支援方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-102583
Applicant:株式会社日立製作所
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